[发明专利]二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置有效
申请号: | 200610201125.6 | 申请日: | 2006-11-21 |
公开(公告)号: | CN101029817A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 杨旭东;王生怀;李家春;谢铁邦 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | G01B7/28 | 分类号: | G01B7/28;G01B5/20;G01B21/20;G01C7/02 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 | 代理人: | 郭防 |
地址: | 550003贵州*** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 位移 传感器 应用 量程 表面 形貌 测量 装置 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州大学,未经贵州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610201125.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学读取装置
- 下一篇:防电磁干扰的遮蔽装置