[发明专利]光波导传输损耗的测量方法和测量装置无效

专利信息
申请号: 200610165545.3 申请日: 2006-12-21
公开(公告)号: CN101206155A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 余和军;李智勇;陈少武;余金中 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02;G01J3/45;H04B10/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周长兴
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 波导 传输 损耗 测量方法 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光波导传输损耗的测量方法,其步骤如下:

A)将光波导芯片中的光波导按排列组合中不重复组合Cn2的方式进行组合,其中n为光波导的条数;

B)光源经过3dB的光纤分束器均分为功率相等的两束光后,分别耦合到光波导芯片中按Cn2的方式组合的其中一组光波导中,该组输出光分别耦合到光纤合束器的两个输入端,合束后输出到光信号探测器以测量所形成的第一条马赫-曾德尔干涉光谱;

C)光源经过3dB的光纤分束器均分为功率相等的两束光后,分别耦合到光波导芯片中按Cn2的方式组合的另外一组光波导中,该组输出光分别耦合到光纤合束器的两个输入端,合束后输出到光信号探测器以测量所形成的第二条马赫-曾德尔干涉光谱;

D)依序接入光波导芯片中按Cn2的方式组合的各组光波导,重复步骤A或B的测量,得到多条马赫-曾德尔干涉光谱;

E)根据测量得到的多条马赫-曾德尔干涉光谱,利用光波导传输损耗对干涉光谱的影响关系,推定出光波导的净传输损耗。

2.一种实现权利要求1所述测量方法的测量装置,包括光源、光波导芯片和光信号探测器;

其中光波导芯片含有至少三条光波导;

光波导芯片的其中一侧的光路上设有一3dB的光纤分束器,光源经过光纤分束器均分为功率相等的两束光后,分别耦合到光波导芯片的两条光波导中;

光波导芯片的另一侧的光路上设有一光纤合束器,从光波导芯片中的两条光波导输出的光分别耦合到光纤合束器的两个输入端,合束后输出到光信号探测器以测量所形成的马赫-曾德尔干涉光谱。

3.根据权利要求2所述的光波导传输损耗的测量装置,其中,光纤分束器的两个输出端和光纤合束器的两个输入端制成圆锥形以减小与光波导芯片的耦合损耗并提高测量精度。

4.根据权利要求2所述的光波导传输损耗的测量装置,其中,光波导芯片的输入和输出端进行抛光以减小与光纤分束器和光纤合束器的耦合损耗提高测量精度。

5.根据权利要求2所述的光波导传输损耗的测量装置,其中,光纤分束器和光波导芯片之间、光纤合束器和光波导芯片之间采用光纤阵列。

6.根据权利要求5所述的光波导传输损耗的测量装置,其中,光纤分束器、光纤合束器与光纤阵列采用法兰盘光纤转接头相接。

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