[发明专利]一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统

权利要求书

1.一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统，其结构为：

一飞秒激光器激发超连续光谱白光，通过一单色仪进行分光，成为波长可以调节的单色光，该单色光通过一个消光系数为10^-5的格兰-泰勒棱镜纯化偏振；

一光弹调制器，其光轴与格兰-泰勒棱镜的光轴成45°角，使光成为左旋和右旋交替变化的圆偏振光；

一样品，放在低温磁体的中心；

圆偏振光聚焦到样品上，从样品反射回来的反射光聚焦到第一光二极管探测器上；

一锁相放大器，其参考信号由光弹调制器的控制器提供，用于测左旋和右旋圆偏振光的光强差。

2.如权利要求1所述的测量系统，其中，激光器与单色仪之间光轴线上设置一光子晶体光纤，在激光器与光子晶体光纤之间设置一聚焦显微物镜，将激光器的光斑聚焦后耦合至光子晶体光纤中；单色仪与光子晶体光纤之间设置一收集显微物镜，将经光子晶体光纤传输的光转换成平行白光。

3.如权利要求1所述的测量装置，其中，格兰-泰勒棱镜的偏振方向与入射光的偏振方向保持一致，以获得最大的光强。

4.如权利要求1所述的测量装置，其中，光弹调制器与样品之间、样品与第一光二极管探测器之间各设有一聚焦透镜。

5.如权利要求1或4所述的测量装置，其中，光弹调制器与样品之间设置一个半透半反镜，反射的圆偏振光至第二光二极管探测器上实时探测光强的变化。

6.如权利要求5所述的测量装置，其中，半透半反镜与第二光二极管探测器之间设有一聚焦透镜。