[发明专利]基于三维存储器进行自测试的集成电路无效
| 申请号： | 200610153562.5 | 申请日： | 2002-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN1967723A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 张国飙 | 申请（专利权）人： | 张国飙 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C17/10;G11C16/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610051四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 三维 存储器 进行 测试 集成电路 | ||
【说明书】：
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