[发明专利]高密度光盘装置的焦距搜索方法

权利要求书

1.一种高密度光盘装置的焦距搜索方法，它包括以下几个步骤：

(1)高密度光盘装置的电源开启时，上提高密度光盘用光拾取器的物镜至光盘方向；

(2)上提上述物镜，判断是否检测被上述光盘表面反射光的S-曲线；

(3)当在检测被上述光盘表面反射光的S-曲线时，就判断光盘安装在上述高密度光盘装置上，然后比较计数上提上述物镜操作的旋转计数器值和静止临界值；以及

(4)当上述比较结果是上述旋转计数器的计数值小于上述静止临界值时，就维持上提上述物镜操作一直到上述旋转计数器的计数值等于上述静止临界值时为止，当上述计数值等于上述静止临界值时，中止上提上述物镜操作。

2.如权利要求1所述的高密度光盘装置的焦距搜索方法，其特征在于，还包括以下步骤；

上述判断结果为判断没有检测被光盘表面反射光的S-曲线时，就判断上述光盘没有安装在上述高密度光盘装置上，进而中止上提上述物镜操作。

3.如权利要求1所述的高密度光盘装置的焦距搜索方法，其特征在于，在判断是否在检测被上述光盘表面反射光的S-曲线的步骤中，还包括以下几个步骤：

(1)上提上述物镜后，检测初期被检测S-曲线的最高值；

(2)比较上述被检测S-曲线的最高值和事先设定的临界值；以及

(3)上述比较结果为上述被检测S-曲线的最高值大于上述事先设定的临界值时，把上述被检测S-曲线判断为上述被光盘表面反射光的S-曲线的步骤。

4.如权利要求1所述高密度光盘装置的焦距搜索方法，其特征在于：

上述静止临界值大于上述物镜到达检测被上述光盘的数据记录面中反射光的S-曲线的位置所需要的时间，并且小于到达上述物镜和光盘的冲突位置所需要的时间。

5.如权利要求3所述的高密度光盘装置的焦距搜索方法，其特征在于：

到达上述物镜与上述光盘的冲突位置所需要的时间是依据下面的公式而计算的，

A+(B-A)*K，

其中，A是把物镜从初期位置移动到被上述光盘表面反射光的S-曲线的位置所需要的时间，B是从检测上述光盘表面的S-曲线的位置移动到检测上述光盘的数据记录面的S-曲线的位置所需要的时间，K是从与上述光盘表面对应的位置到上述物镜和光盘的冲突位置的距离减去上述光盘的表面和数据记录面之间的距离的值。