[发明专利]内存测试装置及内存测试方法无效

专利信息
申请号: 200610148020.9 申请日: 2006-12-26
公开(公告)号: CN101211295A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 谢鹏 申请(专利权)人: 环达电脑(上海)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200436上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 内存 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种内存测试装置,适用于检测一系统的可用物理内存;其特征在于该内存测试装置包括:

一处理模块,其用以获得系统当前可用物理内存的大小;

一测试模块,耦合该系统及该处理模块,且该测试模块用以设置待测物理内存的大小、申请虚拟内存及进行测试操作;

一锁存模块,耦合该处理模块及该系统,且该锁存模块用以将虚拟内存强制锁定在当前可用物理内存中;

一解锁模块,耦合该处理模块及该系统,且该解锁模块用以解除物理内存的锁定。

2.一种内存测试方法,其通过一内存测试装置以检测一系统的可用物理内存,其中,该内存测试装置包括一处理模块,该处理模块耦合一测试模块、一锁存模块及一解锁模块,且该系统耦合该测试模块、该解锁模块及该锁存模块;其特征在于该内存测试方法包括以下步骤:

处理模块获得系统当前可用物理内存的大小;

测试模块将待测物理内存的大小设置为当前可用物理内存的大小;

测试模块申请虚拟内存,且虚拟内存的大小等于待测物理内存的大小;

处理模块判断申请虚拟内存是否成功;

若处理模块判断申请已成功时,则由锁存模块将虚拟内存强制锁定在当前可用物理内存中,令被锁定的物理内存为待测物理内存;

测试模块对待测物理内存进行测试操作;

处理模块判断测试是否结束;

若处理模块判断测试已结束时,则由解锁模块解除物理内存的锁定。

3.根据权利要求2所述的内存测试方法,其特征在于:若处理模块判断申请不成功时,则返回至步骤处理模块获得系统当前可用物理内存的大小。

4.根据权利要求2所述的内存测试方法,其特征在于:若处理模块判断测试未结束时,则继续执行步骤测试模块对待测物理内存进行测试操作。

5.根据权利要求2所述的内存测试方法,其特征在于:该内存测试方法还包括步骤,该处理模块判断是否需进行再一次的测试,若需进行再一次的测试时,则返回至步骤处理模块获得系统当前可用物理内存的大小。

6.根据权利要求2所述的内存测试方法,其特征在于:若该处理模块判断不需进行再一次的测试时,则结束。

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