[发明专利]不对称精密离子抛光系统样品夹具及其应用有效

专利信息
申请号: 200610118508.7 申请日: 2006-11-20
公开(公告)号: CN101191761A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 胡建强;高强;芮志贤;王燕君 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G01N1/32 分类号: G01N1/32;G01N1/06
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 李勇
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 不对称 精密 离子 抛光 系统 样品 夹具 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种不对称精密离子抛光系统样品夹具,具有如下所述的结构:

位于底部的支撑轴;

与支撑轴相连的样品承载平台;

两个样品固定夹臂,位于样品承载平台边缘的相对位置,从所述平台向上延伸并向内弯折;

其特征在于两个样品固定夹臂的长度不相等,夹臂末端之间连线的中点偏离支撑轴的轴心。

2.如权利要求1所述的不对称精密离子抛光系统样品夹具,其特征在于,在两个固定夹臂长度相等的基础上增加其中一臂长度,并以相等量减少另一臂长度,使两个固定夹臂长度不等。

3.如权利要求2所述的不对称精密离子抛光系统样品夹具,其中对固定夹臂增加或减少长度的量在0.25~0.5mm之间。

4.一种不对称精密离子抛光系统样品夹具的应用方法,包括下列步骤:

(1)使用普通的双臂等长夹具固定样品,于精密离子抛光系统中减薄样品;

(2)检查样品被减薄的区域是否为目标区域,如果为目标区域则完成样品减薄;如果非目标区域则进行下一步骤;

(3)使用权利要求1~3所述不对称精密离子抛光系统样品夹具固定样品,于精密离子抛光系统中减薄样品,完成样品减薄。

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