[发明专利]不对称精密离子抛光系统样品夹具及其应用有效
申请号: | 200610118508.7 | 申请日: | 2006-11-20 |
公开(公告)号: | CN101191761A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | 胡建强;高强;芮志贤;王燕君 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G01N1/32 | 分类号: | G01N1/32;G01N1/06 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 李勇 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 不对称 精密 离子 抛光 系统 样品 夹具 及其 应用 | ||
1.一种不对称精密离子抛光系统样品夹具,具有如下所述的结构:
位于底部的支撑轴;
与支撑轴相连的样品承载平台;
两个样品固定夹臂,位于样品承载平台边缘的相对位置,从所述平台向上延伸并向内弯折;
其特征在于两个样品固定夹臂的长度不相等,夹臂末端之间连线的中点偏离支撑轴的轴心。
2.如权利要求1所述的不对称精密离子抛光系统样品夹具,其特征在于,在两个固定夹臂长度相等的基础上增加其中一臂长度,并以相等量减少另一臂长度,使两个固定夹臂长度不等。
3.如权利要求2所述的不对称精密离子抛光系统样品夹具,其中对固定夹臂增加或减少长度的量在0.25~0.5mm之间。
4.一种不对称精密离子抛光系统样品夹具的应用方法,包括下列步骤:
(1)使用普通的双臂等长夹具固定样品,于精密离子抛光系统中减薄样品;
(2)检查样品被减薄的区域是否为目标区域,如果为目标区域则完成样品减薄;如果非目标区域则进行下一步骤;
(3)使用权利要求1~3所述不对称精密离子抛光系统样品夹具固定样品,于精密离子抛光系统中减薄样品,完成样品减薄。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610118508.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件
- 下一篇:图像处理设备、图像处理方法、以及程序