[发明专利]监控系统及应用该监控系统监控电气元件运行的方法有效
申请号: | 200610113753.9 | 申请日: | 2006-10-13 |
公开(公告)号: | CN101163364A | 公开(公告)日: | 2008-04-16 |
发明(设计)人: | 张卫平;王景中 | 申请(专利权)人: | 北方工业大学 |
主分类号: | H05B41/36 | 分类号: | H05B41/36;H05B37/02;G01J5/00;G01J5/14;G01R31/44;G05B19/418;G05B19/048;G06T1/00;G06T7/00 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵镇勇 |
地址: | 100041*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 监控 系统 应用 电气 元件 运行 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种监控系统及其监控电气元件运行的方法,尤其涉及一种运用弧光成像技术监控弧光灯运行的方法。
背景技术
随着社会的发展和技术进步,人们对工业生产、社会生活中的节能要求日趋强烈。灯具是我们日常生活和生产中常用的耗能产品,它是否节能,对我们达到节能目标至关重要。
弧光灯、HID(高气压强度放电)灯、MH(金属卤化物)灯等,由于具有色温好、发光效率高、亮度稳定以及寿命长等优点成为最受欢迎的光源,在家庭与商业照明领域受到了越来越多的关注。
它能否节能,关键在于其产生的弧光的发光效率,而弧光温度场的分布是研究其发光效率的直观方法。目前,对弧光热效率的测量与研究,主要以观察弧光的颜色和测量其发光强度为主要研究手段,这种手段在可见光波段内进行测量,由于弧光在可见光波段内强度非常大,测量设备测得的发光强度只能反映瞬间平均值,无法得到瞬态弧光整体发光强度分布。也就很难有效的地检测并控制弧光灯的运行及发光效率。
发明内容
本发明的目的是提供一种简单、实用的监控系统及应用该监控系统监控电气元件运行的方法,该系统及方法能有效地检测并控制弧光灯或其它电气元件的高效运行。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
本发明的监控系统,用于监控电气元件的运行,包括检测装置、控制装置及监控中心,
所述的检测装置与监控中心电连接,用于检测电气元件运行过程中的温度参数,进行处理后输入给监控中心;
所述的控制装置与控制中心电连接,用于将电气元件运行过程中的电气参数输入给监控中心,并接收监控中心的控制信号,控制电气元件的运行;
所述监控中心,用于根据检测装置传来的温度参数信息和控制装置传来的电气参数信息,确定最佳温度参数对应的电气参数,并进行处理,之后根据处理的结果向控制装置发出控制信号。
还包括显像装置,用于接收监控中心和/或检测装置传来的温度参数和/或电气参数信息,并以二维图像显示。
所述的检测装置包括:
探测器,用于探测电气元件运行过程中的温度参数,并进行处理;
温度采集装置,与探测器电连接,用于采集探测器探测到的温度参数信息,进行处理后输入给监控中心;和/或将温度参数信息输入给显像装置。
所述的探测器为红外探测器,可通过电子扫描成像,探测电气元件运行过程中的红外热辐射信号,并将红外热辐射信号转换为模拟电信号输入给温度采集装置。
所述的电气参数为电压和电流,所述控制装置根据监控中心的控制信号控制电气元件的电压和电流。
本发明的应用上述监控系统监控电气元件运行的方法,其特征在于,包括步骤:
A、检测装置检测电气元件运行过程中的温度参数,进行处理后输入给监控中心;控制装置检测电气元件运行过程中的电气参数并输入给监控中心;
B、监控中心对接收到的温度参数信息及电气参数信息进行处理,得出最佳温度参数所对应的电气参数,之后,根据处理的结果向控制装置发出控制信号;
C、控制装置接收控制信号,并根据控制信号控制电气元件的运行。
所述的步骤B或步骤C之后还包括步骤:
D、监控中心和/或检测装置将温度参数和/或电气参数信息进行处理后,输入给显像装置,由显像装置以二维图像显示。
所述的步骤D包括,探测器探测电气元件运行过程中的温度参数,进行处理后输入给温度采集装置,
温度采集装置将温度参数的模拟电信号输入给显像装置;和/或,
温度采集装置将温度参数的模拟电信号转换为数字信号,之后将数字信号输入给监控中心,监控中心进行处理后输入给显像装置。
所述的步骤D中,
探测器通过电子扫描成像的方法探测电气元件运行过程中的红外热辐射信号,并将红外热辐射信号转换成模拟电信号。
所述的监控中心的处理功能包括,将接收到的温度参数信息进行图像处理功能,所述图像处理功能包括以下功能中至少一项:
图像滤波:消除图像斑点;
图像增强:增加图像对比度;
边缘增强:增加图像边缘对比度;
图像比较:显示两幅图像的差别;
等温分析:显示等温区;
直方图分析:给出图像的直方图,用以显示各灰度级所具有的像素数;
区域分析:显示画定区域的最大值和/或平均值和/或最小值和/或直方图。
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