[发明专利]一种GaAs/AlGaAs晶体材料的非选择腐蚀方法无效
| 申请号： | 200610111350.0 | 申请日： | 2006-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN100435292C | 公开（公告）日： | 2008-11-19 |
| 发明（设计）人： | 张晶;高欣;姜立国;李辉;曲轶;刘国军;薄报学 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | H01L21/306 | 分类号： | H01L21/306;C23F1/16;C09K13/04 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人： | 曲博 |
| 地址： | 130022吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 gaas algaas 晶体 材料 选择 腐蚀 方法 | ||
技术领域
本发明是一种腐蚀半导体材料GaAs/AlGaAs的腐蚀方法，属于半导体器件制造技术领域。
背景技术
现有的采用湿法腐蚀制作半导体器件的方法所使用的腐蚀液主要包括硫酸系列和磷酸系列，前者如H2SO4∶H2O2∶H2O体积比分别为1∶8∶8或者3∶3∶1的腐蚀液，为典型的各向异性腐蚀液，用于脊型波导器件制造；后者如H3PO4∶H2O2∶H2O的体积比分别为1∶1∶10或者1∶1∶5的腐蚀液，也具有明显的各向异性腐蚀特性。通常采用这些腐蚀液腐蚀GaAs/AlGaAs晶体，制作条形半导体器件。腐蚀过程通常是在室温或者冰点温度(0℃)下进行，比如在室温环境下操作，或者将盛有腐蚀液的容器置于冰水中，以得到稳定的腐蚀速率；在腐蚀过程中，腐蚀液是静止的。
发明内容
由于晶向和材料组分以及腐蚀液粘度较低等原因，采用现有腐蚀液制作圆形器件，一般得到的都是近似于菱形的形状。特别是当圆比较小的时候，现有的腐蚀液很难腐蚀出符合要求的圆形形状。较低的腐蚀温度和静止的腐蚀液状态助长了腐蚀在方向上的倾向。概括地说，现有腐蚀方法在腐蚀GaAs/AlGaAs晶体的过程中，表现出腐蚀方向选择性。为了实现GaAs/AlGaAs晶体的非选择腐蚀，本发明提出了一种GaAs/AlGaAs晶体材料的非选择腐蚀方法。
本发明是这样实现的，所采用腐蚀液由重量含量为85％的H3PO4和重量含量为30％的H2O2两种组分组成，各组分的体积比为H3PO4∶H2O2＝10～25∶1；腐蚀过程在30～60℃之间的某一温度下进行；同时腐蚀液在外力作用下在容器内沿同一方向旋转。
根据上述技术方案进行的腐蚀过程具有非选择性，能够实现腐蚀出圆形GaAs/AlGaAs晶
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