[发明专利]再现装置制造方法、记录介质以及计算机产品无效
申请号: | 200610110651.1 | 申请日: | 2006-08-04 |
公开(公告)号: | CN101064161A | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
发明(设计)人: | 细川哲夫 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B7/00;G11B7/0045;G11B7/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 孙海龙 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 再现 装置 制造 方法 记录 介质 以及 计算机 产品 | ||
1、一种再现装置的制造方法,所述再现装置对记录在记录介质中的信号进行再现,所述方法包括以下步骤:
再现步骤:从其中根据设定值记录了信号的记录介质中再现信号,所述设定值是使再现信号的质量劣化的指标的值,所述指标表示导致信号再现时再现信号的质量的劣化的原因的大小;以及
确定步骤:基于再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
2、根据权利要求1所述的方法,其中所述确定步骤包括以下步骤:当确定了再现装置中存在缺陷时,基于所述设定值和所述再现信号,确定所述再现装置中的缺陷的原因。
3、根据权利要求1所述的方法,其中
所述再现步骤包括以下步骤:从其中根据对应的设定值而记录了信号的多个记录介质中再现信号,以及
所述确定步骤包括以下步骤:基于从各个记录介质再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
4、根据权利要求3所述的方法,其中
所述再现步骤包括以下步骤:从所述多个记录介质中的某些记录介质中再现信号,以及
所述确定步骤包括以下步骤:基于从所述多个记录介质再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
5、根据权利要求1所述的方法,其中,所述记录介质是根据激光束所引起的介质热改变来记录信号的记录介质。
6、根据权利要求3所述的方法,其中,将记录在记录介质中的信号的设定值设置为由正交阵列指示的水平。
7、根据权利要求4所述的方法,其中
将记录在记录介质中的信号的设定值设置为由具有三个水平的正交阵列所指示的水平,
所述再现步骤包括以下步骤:再现其中根据与具有三个水平的正交阵列相对应的三种设定值而记录了信号的记录介质的信号,以及
所述确定步骤包括以下步骤:基于在再现时再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
8、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是调制度。
9、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是对称性。
10、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是热累积。
11、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是寻轨偏离。
12、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是散焦。
13、根据权利要求1所述的方法,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因是由于相邻轨道中的记录的功率过高而引起的串扰。
14、根据权利要求1所述的方法,其中
所述记录介质具有多个区域,所述设定值是对应于各区域设置的,
所述再现步骤包括以下步骤:再现记录在各个区域中的信号,以及
所述确定步骤包括以下步骤:基于从记录介质的各个区域中再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
15、一种记录介质,记录有代表数据的信号,其中所述信号是根据使再现信号的质量劣化的指标的设定值而记录的,所述指标表示导致信号再现时再现信号的质量劣化的原因的大小。
16、根据权利要求15所述的记录介质,其中在记录介质的对应区域中记录有具有不同设定值的多个信号。
17、根据权利要求16所述的记录介质,其中使信号再现时再现信号的质量劣化的原因包括以下原因中的至少一个:调制度、对称性、热累积、寻轨偏离、散焦、由于相邻轨道中的记录的功率过高而引起的串扰、基板的翘曲、以及基板厚度的偏差。
18、一种计算机可读记录介质,其中存储有计算机程序,该计算机程序使计算机实现对记录在记录介质中的信号进行再现的再现装置的制造,该计算机程序使计算机执行以下步骤:
从其中根据设定值记录了信号的记录介质中再现信号,所述设定值是使再现信号的质量劣化的指标的值,所述指标表示导致信号再现时再现信号的质量劣化的原因的大小;以及
基于再现的信号,确定再现装置中是否存在缺陷。
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