[发明专利]一种同步码分多址系统终端故障检测的系统和方法有效
| 申请号: | 200610109331.4 | 申请日: | 2006-08-10 |
| 公开(公告)号: | CN101123782A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
| 发明(设计)人: | 张峰;梁敏 | 申请(专利权)人: | 北京信威通信技术股份有限公司 |
| 主分类号: | H04Q7/34 | 分类号: | H04Q7/34;H04B17/00;H04Q7/32 |
| 代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王昭林;崔华 |
| 地址: | 100094北京市海淀区东*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 同步 码分多址 系统 终端 故障 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种移动通信系统终端故障检测的系统和方法,尤其涉及一种同步码分多址(SCDMA)系统终端故障检测的系统和方法。
背景技术
SCDMA终端故障一般包括两类:第一种是终端外围设备损坏,如液晶、受话器、扬声器、按键损坏等;还有一种属于主板损坏,如射频(RF)性能达不到指标要求及基带部分重要芯片损坏。其中第一种损坏类型,通过维修人员目测或使用简单的万用表就可以很容易检测出来;然而第二类损坏的检测往往需要专用的检测设备。
现有的SCDMA终端故障检测系统的硬件结构原理图如图1所示,其主要包括分别与被测终端连接的控制单元和检测单元,控制单元具体为内嵌有控制软件的PC机,检测单元主要包括频谱仪、信号源和功分器。其中,功分器分别与频谱仪和信号源连接,频谱仪用于数据采集和数据分析;信号源用于给被测终端提供信号;内嵌有检测控制软件的PC机通过串口线对被测终端进行控制,同时能够对被测终端的基带芯片及接收性能进行分析。
现有的SCDMA终端故障检测系统的相关检测步骤包括:运行PC机,打开被测终端电源,使被测终端与PC机握手;进行基带芯片检测时,PC机控制被测终端,命令被测终端进行回环检测,检测结束后,被测终端通过串口线将检测结果传递给PC机,PC机解析检测结果后,将检测结果显示给用户;进行发射性能检测时,PC机控制被测终端的工作状态,如设置被测终端的发射功率、频点、信号类型等信息,当被测终端发射出信号后,手动设置频谱仪检测各种参数,频谱仪对接收到的信号进行数据分析从而进行发射性能检测;进行接收性能检测时,手动设置信号源,包括功率和频率,使信号源输出信号,PC机控制被测终端,将被测终端接收到的数据传送给PC机,PC机进行数据分析从而进行接收性能检测。
但是,目前能够进行SCDMA终端的RF性能和基带芯片检测的故障检测系统集成化程度低,并且检测过程中需要手动设置检测参数,使用非常的不方便。
因此,本发明提出了一种结构简单、集成化和自动化程度高的SCDMA系统终端故障检测的系统和方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种集成化和自动化程度高的SCDMA系统终端故障检测的系统和方法。
本发明提出了一种SCDMA系统终端故障检测的系统,其包括:
检测单元和与其相连的控制单元;
所述检测单元至少包括检测模块,该检测模块至少包括用于向被测终端提供信号的射频模块,及用于采集所述被测终端发射的信号的微处理控制单元及数字信号处理模块,所述微处理控制单元及数字信号处理模块与所述射频模块连接;
所述控制单元至少包括控制模块和数据分析模块;所述控制模块用于向所述检测单元的微处理控制单元及数字信号处理模块和被测终端发送控制命令;所述数据分析模块用于对所述检测单元的微处理控制单元及数字信号处理模块从被测终端接收到的信号进行分析,和对被测终端从所述检测单元的射频模块接收到的信号进行分析。
优选地,所述检测模块还包括通用输入输出接口模块。
优选地,所述检测模块为SCDMA系统终端。
优选地,所述检测单元还包括可调衰减器,该可调衰减器至少包括:与所述通用输入输出接口模块连接并用于调节信号强度的控制端模块,所述可调衰减器分别与所述检测模块的射频模块和被测终端的射频模块连接;其中,所述微处理控制单元及数字信号处理模块将所述控制模块发送的对可调衰减器的控制命令解析后,通过所述通用输入输出接口模块与所述控制端模块的连接对可调衰减器进行控制。
优选地,所述控制单元还包括用于设置检测项目及显示检测结果的用户界面模块,和用于保存检测结果的数据保存模块;所述用户界面模块分别与所述控制模块及数据分析模块连接,所述数据保存模块与数据分析模块相连。
根据本发明的另一方面,本发明还提出了一种SCDMA系统终端故障检测的方法,适用于对被测终端的基带芯片进行检测,其包括以下步骤:
(1)控制单元分别与被测终端和检测单元握手;
(2)所述控制单元的控制模块向被测终端发送基带芯片检测命令;
(3)被测终端的微处理控制单元及数字信号处理模块根据所述基带芯片检测命令进行回环检测;
(4)在所述回环检测结束后,所述微处理控制单元及数字信号处理模块将检测数据返回给所述控制模块;
(5)所述控制单元的数据分析模块对所述检测数据进行分析判断。
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