[发明专利]修复像素缺陷的方法及影像显示系统

说明书

技术领域

本发明涉及影像显示系统，且特别是涉及一种修复像素缺陷的方法及包含其方法制成结构的影像显示系统。

背景技术

随着影像质量要求的提升，液晶显示器的像素密度亦随之提升。然而，像素密度提升表示工艺的临界尺寸(critical dimension，CD)下降。就相邻的像素而言，像素电极会因其光刻蚀刻工艺的差异，而留下部分区域残留，造成相邻的像素电极相连，此缺陷造成像素亮点。一般而言，像素亮点超过3个以上的面板，就无法被消费者接受，仅能归为次级品出货，或是直接报废，造成制造成本增加。更有甚者，由于一般像素电极由透明氧化物导体构成，例如铟锡氧化物(简称ITO)，不易由肉眼检测判断，往往在组装之后才测试发现，因而造成制造成本的损失。

为解决上述相邻像素电极残留或相连的问题，传统方法以点墨法或激光烧熔(laser welding)，将亮点缺陷暗化。图1为显示传统修复亮点缺陷的有源元件阵列基板平面图。请参阅图1，一有源元件阵列基板10包括一像素阵列，各个像素由平行的栅极线7与数据线6所围的区域构成，例如相邻的像素PX1及PX2。各像素包括一有源元件TFT与一储存电容Csc对应一液晶胞。当相邻的两像素电极9间存在像素电极残留9a、9b或相连时，此相邻的像素便是亮点缺陷。传统的方法将部份储存电容Csc，例如位置20，以激光烧熔(laser welding)直接造成该像素断路。然而，直接以激光烧熔储存电容Csc，属破坏性烧除，造成该像素永久性破坏，而牺牲了该像素。

有鉴于此，为了有效提升产品等级，业界企需一种修复亮点缺陷像素的方法，无需将亮点破坏成暗点，而影响产品等级。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种修复液晶显示器亮点缺陷的方法，藉由控制激光的聚焦与能量直接将像素电极残留或相连烧开，保留该像素的功能。

为达成上述目的，本发明提供一种修复像素缺陷的方法，包括：提供一待测的有源元件基板；执行阵列测试(array test)该有源元件基板；以及当有源元件基板上的相邻两个像素有一电极相连缺陷时，执行一激光烧除步骤，修复相邻两个像素。

为达成上述目的，本发明还提供一种影像显示系统，包括：一液晶显示器面板，包括一有源元件基板、一彩色滤光层基板、以及一液晶层夹置于有源元件基板与彩色滤光层基板之间；其中该有源元件基板上的相邻两个像素电极具一激光烧除结构。

应注意的是，上述影像显示系统还包括一控制器耦接至该液晶显示器面板，且根据一输入信号控制该液晶显示器面板使之产生影像，以及一输入装置耦接至该控制器，以提供该液晶显示器面板显示影像的依据。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下配合附图以及优选实施例，以更详细地说明本发明。

附图说明

图1为显示传统修复亮点缺陷的有源元件阵列基板平面图；

图2为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的平面图；

图3为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的流程图；

图4为显示图2沿A-A’切割线的剖面图；

图5为显示根据图2修复后的有源元件基板与一彩色滤光层基板组合后形成的液晶显示器的示意图；

图6为显示根据本发明实施例的显示系统包含显示器面板的液晶显示器模块的方块示意图；以及

图7为显示根据本发明实施例包含显示器模块的电子装置的方块示意图。

简单符号说明

现有部分(图1)

10～有源元件阵列基板；14a、14b～源极/漏极；14c～下电极；5～共同电极线；6～数据线；7～栅极线；9～像素电极；9a、9b～像素电极残留或相连；12～栅极电极；15～上电极；18～接触栓；PX1、PX2像素；TFT～有源元件；Csc～储存电容。

本发明部分(第2～7图)