[发明专利]数据存储装置、数据存储方法以及数据读取方法有效

专利信息
申请号: 200610091895.X 申请日: 2006-06-14
公开(公告)号: CN101089998A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 郝大明;叶航军 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G11C17/04 分类号: G11C17/04
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 李峥;刘瑞东
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 数据 存储 装置 方法 以及 读取
【权利要求书】:

1.一种数据存储装置,包括:

至少一个电桥,用于存储二进制数据,其中每个电桥具有四个臂,并利用两个对角点之间的非平衡状态表示一位;以及

至少一个比较器,分别连接在每个上述电桥的上述两个对角点之间,用于判断上述电桥所表示的位的值,

其中,当对上述电桥的两端施加电压时,上述比较器比较上述两个对角点之间的电平差,如果所述电平差落入第一阈值范围,所述电桥表示“0”,如果所述电平差落入第二阈值范围,所述电桥表示“1”。

2.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中,所述电桥为电容电桥。

3.根据权利要求2所述的数据存储装置,其中,所述电容电桥包括配置臂,所述配置臂包括并联连接的固定电容器和可调电容器。

4.根据权利要求3所述的数据存储装置,其中,所述可调电容器包括多个并联连接的配置电容器,所述配置电容器串联连接有开关。

5.根据权利要求4所述的数据存储装置,其中,所述开关包括熔丝,其中通过熔断所述熔丝控制所述开关,调节所述电桥的非平衡状态。

6.根据权利要求4所述的数据存储装置,还包括控制单元,用于通过控制所述开关,调节所述电桥的非平衡状态。

7.根据权利要求6所述的数据存储装置,其中,所述控制单元根据所述比较器的判断结果控制所述开关。

8.根据权利要求6所述的数据存储装置,其中,所述开关包括场效应晶体管开关,所述控制单元包括存储器,所述存储器分别与所述场效应晶体管开关相连,以控制所述场效应晶体管开关的通断。

9.根据权利要求8所述的数据存储装置,其中,所述场效应晶体管开关是金属氧化物半导体场效应晶体管开关。

10.根据权利要求8所述的数据存储装置,其中,所述存储器是闪存存储器。

11.根据权利要求6-10中任何一项所述的数据存储装置,还包括随机数字产生器,用于通过所述控制单元随机地关断或导通所述开关。

12.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中,所述电桥为电阻电桥。

13.根据权利要求12所述的数据存储装置,其中,所述电阻电桥包括配置臂,所述配置臂包括串联连接的固定电阻器和可调电阻器。

14.根据权利要求13所述的数据存储装置,其中,所述可调电阻器包括多个串联连接的配置电阻器,所述配置电阻器并联连接有开关。

15.根据权利要求14所述的数据存储装置,其中,所述开关包括熔丝,其中通过熔断所述熔丝控制所述开关,调节所述电桥的非平衡状态,以写入数据。

16.根据权利要求14所述的数据存储装置,还包括控制单元,用于通过控制所述开关,调节所述电桥的非平衡状态,以写入数据。

17.根据权利要求16所述的数据存储装置,其中,所述控制单元根据所述比较器的判断结果控制所述开关。

18.根据权利要求16所述的数据存储装置,其中,所述开关包括场效应晶体管开关,所述控制单元包括存储器,所述存储器分别与所述场效应晶体管开关相连,以控制所述场效应晶体管开关的通断。

19.根据权利要求18所述的数据存储装置,其中,所述场效应晶体管开关是金属氧化物半导体场效应晶体管开关。

20.根据权利要求18所述的数据存储装置,其中,所述存储器是闪存存储器。

21.根据权利要求16-20中任何一项所述的数据存储装置,还包括随机数字产生器,用于通过所述控制单元随机地关断或导通所述开关。

22.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中,当对上述电桥的两端施加2.5V-5V的电压时,所述第一阈值范围为-0.3mV至-0.15mV,所述第二阈值范围为0.15mV至0.3mV。

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