[发明专利]一种以太网回波损耗的测量方法和系统无效

专利信息
申请号: 200610082965.5 申请日: 2006-06-21
公开(公告)号: CN101093237A 公开(公告)日: 2007-12-26
发明(设计)人: 张祖锋;马峰超;田之继 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01R27/28 分类号: G01R27/28;H04L12/26
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 以太网 回波 损耗 测量方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种以太网回波损耗的测量方法和系统,尤其涉及传输介质为无屏蔽双绞线的100M以太网。

背景技术

回波损耗(RL,简称回损),顾名思义,指的是一种损耗。实际上,它测量的是传输信号被反射到发射端的比例。

回波损耗的定义:

RL=20log|(Zin-100)/(Zin+100)|

其中,Zin是输入阻抗,100欧姆是参考阻抗,无屏蔽的双绞线的特性阻抗为100欧姆。

在以太网的物理层接口性能中,回波损耗是一项重要的指标,通过测量回波损耗,可以很清楚的知道单板设计的阻抗和双绞线的阻抗特性之间的关系,单板被测网口的回损越小,说明单板的输入阻抗特性与双绞线阻抗匹配的越好。

目前,以太网的物理性能中,回波损耗很少被测试,因为双绞线是一种平衡传输线,很多测试仪不支持这种测试。

发明内容

本发明所要解决技术问题是提供一种测量以太网回波损耗的系统,能够有效地测量以太网的回波损耗。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种测量以太网回波损耗的系统,用于测量以太网的回波损耗,包括网络分析仪、平衡-不平衡变压器和被测设备,其特征在于,所述网络分析仪通过同轴电缆与平衡-不平衡变压器的一端相连接,所述平衡-不平衡变压器的另一端通过连接器和被测设备相连接。

进一步地,上述系统还可具有以下特点:所述网络分析仪的型号是8753ES,所述平衡-不平衡变压器的型号是North Hills0300BB,所述连接器为RJ45连接器插头和RJ45连接器插座。

本发明所解决的另一技术问题是提供了一种测量以太网回波损耗的方法,能够有效地测量以太网的回波损耗。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种测量以太网回波损耗的方法,用于测量以太网的回波损耗,包括以下步骤:

(a)启动网络分析仪,预热后,对其进行校准;

(b)校准后,搭建测试环境,网络分析仪通过同轴电缆与平衡-不平衡变压器的一端相连,平衡-不平衡变压器的另一端通过连接器与被测设备相连;

(c)被测试网口上电,使用网络分析仪进行回波损耗测试,获取回波损耗值。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述步骤(a)中,对网络分析仪的校准包括以下步骤:(o)搭建校准环境,初始化网络分析仪;(p)将校准件分别置入校准环境,并在网络分析仪上分别选择相应的校准模式;(q)移除校准件,查看网络分析仪上的标注值,如果该值大于1.0000且小于1.0009,则校准成功,否则返回步骤(o)。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述步骤(o)中,所述搭建校准环境是将网络分析仪通过同轴电缆与平衡-不平衡变压器的一端相连,平衡-不平衡变压器的另一端与一用来连接校准件的连接器相连,所述初始化进一步包括设置网络分析仪的开始频率、截至频率和端口。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述开始频率是1兆赫,所述截止频率是80兆赫,所述端口为S11 1端口或S22 1端口。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述校准件由RJ45连接器制成,包括开路校准件、短路校准件和负载校准件,所述开路校准件是直接使用RJ45连接器,所述短路校准件是RJ45连接器的第一、第二引脚间和第三、第六引脚间短路连接,所述负载校准件是RJ45连接器的第一、第二引脚间和第三、第六引脚间带负载连接,所述负载是总阻值为100欧姆的电阻。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述电阻为表面贴装型电阻。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述步骤(b)中,所述网络分析仪的型号是8753ES,所述平衡-不平衡变压器的型号是NorthHills0300BB,所述连接器为RJ45连接器插头和RJ45连接器插座。

进一步地,上述方法还可具有以下特点:所述步骤(c)进一步包括,在网络分析仪上选择格式化,选择记录,进行回波损耗测试,使用网络分析仪的标注功能,均匀地放置标注点以获取回波损耗值。

采用本发明所述系统和方法利用网络分析仪的S11功能,测量以太网输入端口的回波损耗,保证回波损耗测量值的准确,通过回波损耗,可以清楚的知道单板输入阻抗与双绞线阻抗的匹配情况。

附图说明

图1是本实施例的测试原理图;

图2是本实施例的自制网络分析仪校准件图;

图3是本实施例的校准环境图;

图4是本实施例的测试环境图;

图5是本实施例测量回波损耗的流程图。

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