[发明专利]新型闪烁晶体LaBr3:Ce3+的坩埚下降法生长工艺无效
申请号: | 200610081630.1 | 申请日: | 2006-05-10 |
公开(公告)号: | CN101070607A | 公开(公告)日: | 2007-11-14 |
发明(设计)人: | 陈红兵;杨培志;周昌勇;肖华平;蒋成勇 | 申请(专利权)人: | 宁波大学;昆明物理研究所 |
主分类号: | C30B11/00 | 分类号: | C30B11/00;C30B29/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 315211浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 新型 闪烁 晶体 labr sub ce sup 坩埚 下降 生长 工艺 | ||
1、LaBr3:Ce3+单晶的坩埚下降法生长工艺,包括原料制备、晶体生长、晶体加工等步骤,其特征在于:通过卤化焙烧脱水处理制备严格无水溴化物原料,添加少量活性碳粉作为溴化物原料的除氧剂;密封铂坩埚以避免熔体氧化和挥发,控制适当工艺条件进行坩埚下降晶体生长;采用油性磨料进行晶体加工,通过镀膜处理以避免晶体潮解。
2、按权利要求1所述的单晶生长工艺,其特征在于采用卤化焙烧处理制备严格无水溴化物配合料,即在干燥HBr气体保护下,通过适度焙烧处理使含结晶水的溴化镧、溴化铈及其混合多晶逐步脱水,以制备满足晶体生长需要的无水溴化物原料。
3、按权利要求1或2所述的单晶生长工艺,其特征在于采用两步卤化焙烧脱水处理法:先通过第一次脱水处理获得单组分无水溴化镧、溴化铈,再将适当比例的配合料装入铂坩埚,放入管式电阻炉进行第二次脱水处理;脱水处理结束后,立即密闭焊封铂坩埚,以避免配合料发生吸潮。
4、按权利要求1或2或3所述的单晶生长工艺,其特征在于原料制备采用适当工艺条件,在卤化焙烧脱水处理中,须保持通入足量HBr气体,逐步升高焙烧温度,且控制焙烧温度于300℃以下,经过6~8小时焙烧处理,以脱去原料所含全部水分。
5、按权利要求1所述的单晶生长工艺,其特征在于晶体生长过程须控制适当的工艺参数,须控制炉温于850~900℃,形成温度梯度为20~50℃/厘米的固液界面,以0.3~3毫米/小时的速率进行坩埚下降晶体生长。
6、根据权利要求1的单晶生长工艺,其特征在于所生长单晶可以为圆柱、棱柱等形状,且单台生长炉每次可获得1~10根单晶。
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