[发明专利]低阻抗隧道磁阻效应元件及其制造和测试方法及测试设备有效
| 申请号： | 200610072053.X | 申请日： | 2006-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN1848245A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 猿木俊司;稻毛健治;桑岛哲哉;清野浩;田上胜通;福田一正;河野雅秀 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/39 | 分类号： | G11B5/39 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 朱海波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 阻抗 隧道 磁阻 效应 元件 及其 制造 测试 方法 设备 | ||
【权利要求书】：
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