[发明专利]基于微控制器和CPLD的高速动态测试装置及方法

权利要求书

1.一种基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，首先，测试图形发生器输出数字化的图形数据，传送到SRAM；然后在CPLD硬件控制电路的控制下，以150MHz的频率从SRAM中取数送到被测DAC器件进行数模转换，经过滤波后生成被测DAC器件的输出图形，最后，DAC器件的输出图形输入到图形比较器，在图形比较器中对被测DAC器件的输出图形与测试图形发生器输出的期待输出图形进行比较，分析被测器件DAC的动态功能，以上过程由测试装置软件控制。

2.根据权利要求1所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，其特征在于，测试图形发生器为PC机上的波形发生器软件，利用Microsoft Visual Basic 6.0编写，波形数据通过RS-232串口提前下载到测试板上的SRAM中。

3.根据权利要求1所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，其特征在于，DAC器件的数模转换是在CPLD硬件控制电路的控制下进行的，直接从SRAM中取数送到被测DAC。

4.根据权利要求1所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，其特征在于，CPLD采用EPM7128AE，在CPLD内部构造的DAC控制电路，CPLD用VHDL或Verilog HDL编程，借助EDA工具经过行为仿真、功能仿真和时序仿真后，通过综合工具产生网表，下载到目标器件。

5.根据权利要求1所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，测试装置软件流程，其工作步骤如下：

第1步，测试装置上电复位后，对装置进行初始化；

第2步，装置等待上位机的命令；

第3步，接收上位机的数据；

第4步，等待数据传送完成；

第5步，启动CPLD控制电路，取数据到DAC进行A/D转换，然后转第2步。

6.根据权利要求5所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，其特征在于，在VB开发环境下设计了上位机，上位机产生测试波形，传送到测试装置，D/A转换后的电压经低通滤波器形成输出波形，输出波形送频谱分析仪或示波器进行显示分析；然后再从频谱分析仪输出数据到PC机和期待输出波形进行比较，以分析DAC的动态性能。

7.一种基于微控制器和CPLD的高速动态测试装置，包括PC机、频谱分析仪、动态测试装置，动态测试装置以AVR微控制器为核心，包括CPLD、SRAM、RAM、串口芯片、缓冲器和被测DAC，PC机的波形数据送到测试装置，测试装置生成的波形送频谱分析仪。

8.根据权利要求6所述的基于微控制器和CPLD的高速动态测试装置，其特征在于，微控制器采用AVR微控制器AT90S8515，增强型RISC体系结构CPU，8K Flash，512字节EEPROM，512字节Internal SRAM，UART，SPI，宽电压范围：2.7-6.0V，SRAM选用64K×16的CY7C1021V。