[发明专利]低温多晶硅薄膜制造方法有效

专利信息
申请号: 200610063347.6 申请日: 2006-10-27
公开(公告)号: CN101168474A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 颜硕廷 申请(专利权)人: 群康科技(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司
主分类号: C03C17/22 分类号: C03C17/22;C30B28/08;C30B29/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 低温 多晶 薄膜 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种低温多晶硅薄膜制造方法,其包括下列步骤:

a.提供一衬底,在该衬底上形成一非晶硅薄膜;

b.提供一准分子激光发生器,其射出一面光源脉冲激光束,该面光源脉冲激光束照射该非晶硅薄膜形成一照射区域,该照射区域处于熔融状态;

c.该准分子激光发生器移动一小距离,使该面光源脉冲激光束照射该非晶硅薄膜上形成另一照射区域,该两照射区域间形成一间隔区域;

d.重复步骤c,在该非晶硅薄膜上形成多个照射区域和多个间隔区域。

2.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该准分子激光发生器包括一步进马达,该步进马达控制该准分子激光发生器移动。

3.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该准分子激光发生器的激光口呈一矩形状。

4.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该面光源脉冲激光束长度为370mm。

5.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该面光源脉冲激光束宽度为0.4um。

6.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该照射区域呈一矩形状。

7.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤b中该两相邻照射区域平行排布。

8.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:步骤c中该间隔区域宽度小于该照射区域宽度的五分之一。

9.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:对该衬底施加一介于300℃~400℃间的温度。

10.如权利要求1所述的低温多晶硅薄膜制造方法,其特征在于:该非晶硅薄膜采用真空蒸镀、溅射、低压化学气相沉积或等离子化学气相沉积方法中的任意一种制成。

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