[发明专利]跌落测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种跌落测试系统，其特征在于：  包括一个定位控制器、一个用于对该待测试件进行取像和测量待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置，所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连，所述定位控制器在该控制装置的作用下控制所述取放装置作业，该取放装置在所述控制装置及定位控制器的控制下，取放待测试件来对其进行跌落测试。

2.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述定位控制器包括一基座和一个与该基座相连的定位控制臂，该定位控制臂用于控制所述取放装置绕该定位控制臂旋转或上下滑动。

3.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述取像定位装置为电荷耦合摄影机。

4.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述取放装置包括一个与所述定位控制器相连的机械手臂、一个滑动套设于该机械手臂的滑筒、一个与该滑筒相连的转轴以及一个与转轴相连的取放机构，所述取放机构用于获取待测试件。

5.如权利要求4所述的取放装置，其特征在于：所述取放机构为一电磁铁、吸嘴或夹爪，该取放机构还可通过与滑筒相连的转轴可以在二维平面内转动。

6.一种跌落测试方法，包括下列步骤：

提供一如权利要求1至5任一项所述的跌落测试系统；

提供一待测试件，且置于定位控制器上；

由取像定位装置测量待测试件位置的数据及图像并将该数据及图像传送给控制装置；

由控制装置对取像定位装置取得的待测试件的数据及图像进行分析，得到取放装置所要获取的待测试面及取放装置获取待测试件所需的移动量；

取放装置在定位控制器与控制装置的共同控制下，获取所述待测试件，同时将获得待测试件的信号数据反馈给控制装置；

定位控制器在控制装置的控制下，提升取放装置到所要求的测试高度；

取放装置在控制装置的控制下，让待测试件自由落下。

7.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于：所述待测试件跌落测试所需要的高度为1.5米。

8.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于：所述待测试件包括一个待测试元件与一个用于容置该待测试件的金属容器。

9.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于，所述取放装置获取待测试件时所需的移动量的确定包括下列步骤：

在定位控制器上且在所述取像定位装置取像范围内任意画四个不重复的定位点；

在该四个定位点所形成的范围内定义原点；

测量各定位点到原点的实际距离，得到一个存储在控制装置内的二维定位网络；

利用该二维定位网络，经过控制装置的分析计算，得到取放装置移动至待测试件跌落位置所需的距离，即取放装置所需的移动量。

10.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于，所述测试表面的确定包括下列步骤：

由所述取像定位装置对置于定位控制器上且在所述取像定位装置取像范围内的待测试件取像；

将取得的影像传送给控制装置，经该控制装置将待测试件的三个不同方向的表面设置为三种不同的灰阶颜色，使该待测试件在取像定位装置取得的影像中所显示的灰阶不同；

利用此灰阶分别来判断确定朝上的待测试件的表面，再利用长短边的不同来判断另外两个方向的表面，从而该控制装置确定所要获取的待测试表面。