[发明专利]信号线参考平面检查系统及方法无效

专利信息
申请号: 200610062295.0 申请日: 2006-08-25
公开(公告)号: CN101131708A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 许寿国;萧俊山 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 信号线 参考 平面 检查 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种信号线参考平面检查系统,该系统包括一个信号线选择单元,一个参考平面检查单元,一个数据库及一个显示单元,其特征在于:

所述数据库存储信号线文件,每一个信号线文件用于存储一个印刷电路板上的所有信号线,在该信号线文件中共用一个总线的信号线是一个群组,在同一个群组中,所有的信号线都有相同的命名字元;

该信号线选择单元包括一个信号线过滤器及一个信号线选择模组,该信号线过滤器以相同字元为依据,将一个信号线群组从该信号线文件中读取出来,该信号线选择模组从所读取的信号线群组中选择待测信号线;

所述参考平面检查单元利用所选择的待测信号线检查其所对应参考平面的完整性,该检查待测信号线所对应参考平面的完整性是通过将该待测信号线正投影于其所对应的参考平面上,检查该投影与参考平面之间的关系,或通过检查待测信号线从晶片接脚出来到换层之间的距离是否过长,以检查该参考平面是否完整;

所述显示单元用于将上述参考平面检查单元所检查的结果显示出来。

2.如权利要求1所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,该系统还包括一个报表产生单元,该报表产生单元用于产生信号线参考平面检查报表,该检查报表包括每一个信号线所对应参考平面的检查结果及每一个信号线各个线段长度的列表,以提供整个信号线群组的检查比对。

3.如权利要求1所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,所述检查该投影与参考平面之间的关系包括:检查待测信号线所对应的参考平面是否连续,检查待测信号线是否跨越参考平面,及检查待测信号线与其参考平面的间隙是否太过接近。

4.如权利要求3所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,所述检查信号线所对应的参考平面是否连续是检查该投影所经过的参考平面是否皆为同一平面。

5.如权利要求3所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,所述检查信号线是否跨越参考平面是检查该投影是否与该参考平面的切割线有重叠的部分。

6.如权利要求3所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,所述检查信号线与其参考平面的间隙是否太过接近是检查该投影与平面切割线之间的距离是否大于所设定的最小距离限制。

7.如权利要求1所述的信号线参考平面检查系统,其特征在于,所述通过检查待测信号线从晶片接脚出来到换层之间的距离是否过长是以该待测信号线为准,检查该待测信号线从晶片接脚出来到换层前所走线的长度是否小于所设定的最大长度限制。

8.一种信号线参考平面检查方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

通过信号线选择单元从数据库中选择一个信号线文件;

从该信号线文件中过滤出欲检查的信号线群组;

从该信号线群组中选择待测的信号线;

选取欲检查的项目;

针对所选择的检查项目,利用参考平面检查单元对上述待测信号线执行参考平面完整性检查,显示检查结果,同时对不符合完整性的检查项目做出标记。

9.如权利要求8所述的信号线参考平面检查方法,其特征在于,所述欲检查的项目包括:检查待测信号线的参考平面是否连续,检查待测信号线是否跨越参考平面,检查待测信号线从晶片接脚出来到换层前所走线的长度是否小于所设定的最大长度限制,及检查待测信号线与其参考平面的间隙是否太过接近。

10.如权利要求9所述的信号线参考平面检查方法,其特征在于,所述针对检查信号线的参考平面是否连续执行参考平面完整性的检查,是通过:

将所选择的信号线正投影于其所对应的参考平面,检查该投影所经过的参考平面是否皆为同一平面。

11.如权利要求9所述的信号线参考平面检查方法,其特征在于,所述针对检查信号线是否跨越参考平面执行参考平面完整性的检查,是通过:

将所选择的信号线正投影于其所对应的参考平面,检查该投影是否与平面切割线有重叠的部分。

12.如权利要求9所述的信号线参考平面检查方法,其特征在于,所述针对检查信号线与其参考平面的间隙是否太过接近执行参考平面完整性的检查,是通过:

将所选择的信号线正投影于其所对应的参考平面,检查该投影与平面切割线之间的距离是否大于所设定的最小距离限制。

13.如权利要求8所述的信号线参考平面检查方法,其特征在于,该方法还包括步骤:

将每一个信号线所对应参考平面的检查结果及相对应该信号线各个线段长度的列表以报表形式输出。

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