[发明专利]平面度及平行度测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种平面度及平行度测试系统，包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，其特征在于：该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据。

2.如权利要求1所述的平面度及平行度测试系统，其特征在于：所述箱体包括一水平的顶板，所述支持件装设在该顶板上，所有支持件的顶端确定所述基准面。

3.如权利要求2所述的平面度及平行度测试系统，其特征在于：所述量测机构包括若干个千分表，所有千分表均装设在所述箱体内；该千分表包括一可伸缩的测杆，该测杆的顶端穿透所述顶板伸出箱体之外。

4.如权利要求3所述的平面度及平行度测试系统，其特征在于：所述测试仪器进一步包括一接口，所述千分表通过该接口与所述数据处理器连接。

5.如权利要求3所述的平面度及平行度测试系统，其特征在于：所述测试仪器进一步包括一控制装置，该控制装置调节所述测杆的位置参数。

6.如权利要求1所述的平面度及平行度测试系统，其特征在于：所述数据处理器进一步包括一显示模块，该显示模块显示所述测试仪器及数据处理器的相关参数及对工件的测试结果。

7.一种平面度及平行度测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

提供一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量工件受测面上的测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据；

设置所述测试仪器及数据处理器的测试参数；

用所述量测机构测量受测面上若干测试点与基准面之间的距离作为测试数据，并输入数据处理器；

用数据处理器对测试数据加以分析并与测试参数进行比较，得出平面度及平行度测试结果。

8.如权利要求7所述的平面度及平行度测试方法，其特征在于：所述量测机构包括若干个千分表，该千分表包括一测杆，所有测杆顶端的位置与所有测试点一一对应。

9.如权利要求8所述的平面度及平行度测试方法，其特征在于：所述测试参数为各测试数据之差的可接受的范围，或所有测试数据的样本方差的可接受的范围。

10.如权利要求9所述的平面度及平行度测试方法，其特征在于：所述测试仪器进一步包括一接口，所述千分表通过该接口与所述数据处理器连接。