[发明专利]具定位装置的测试室

权利要求书

1、一种具定位装置的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其特征在于其包括：

一隔离室，具有屏蔽效果；

一测试桌，设置在该隔离室内，用以摆置该电子装置；

一测试天线，设置在该隔离室内且与该测试桌相距一第一既定距离，用以执行该电子装置的电磁波相关测试；

一定位装置，具有一个以上的定位器，设置在该隔离室的内侧壁面上，用以决定该电子装置的摆放位置和方向以及选择性决定该测试天线的摆放位置和方向；

数个吸波材料，设置在该隔离室的内侧壁面，用以避免该隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。

2、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为一定位器，该定位器设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向。

3、根据权利要求2所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器为一雷射光源，以产生一雷射光线。

4、根据权利要求3所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

5、根据权利要求3所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

6、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为二定位器，该定位器分别设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，以及设置在该测试桌相对该测试天线的另一侧的该隔离室的内侧壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向和该测试天线的摆放位置和方向。

7、根据权利要求6所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器为一雷射光源，以产生一雷射光线。

8、根据权利要求7所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

9、根据权利要求7所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

10、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为三定位器，该定位器分别设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面、设置在该测试桌相对该测试天线的另一侧的该隔离室的内侧壁面，以及设置在相对该测试天线的该隔离室的内侧上壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向和该测试天线的摆放位置和方向。

11、根据权利要求10所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器分别为一雷射光源，以产生一雷射光线。

12、根据权利要求11所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

13、根据权利要求11所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

14、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试桌具有一转动装置，以转动该测试桌。

15、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线的底座上具有数个L形铁片，以强化该测试天线，并且在该测试天线和该天线架的底座上设置该吸波材料。

16、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该既定距离由进行的电磁波相关测试的相关标准和规范所决定。

17、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线为一射频测试天线。

18、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线为一电磁兼容性测试天线。