[发明专利]冲击试验的辅助治具

说明书

技术领域

本实用新型是涉及一种治具，且特别是涉及一种执行一待测物的冲击试验以前，预先设置在该冲击试验设备的一负载平台上，以仿真该待测物在该负载平台上来进行冲击试验的辅助治具。

背景技术

大部分电子产品在组装完成后，通常会进行成品测试，例如老化测试、电性测试、高温高湿环境测试及冲击测试等，以确保电子产品的质量。由于电子产品在运送过程中很容易因冲击，而使其内部的电子组件脱落或损坏，所以冲击测试成为许多种电子产品所必须执行的成品测试。已知技朮乃是通过一冲击试验设备将其空的负载平台，从高处掉落后撞击低处固定块的方式来仿真出待测的电子产品的冲击条件，以提供不同的冲击条件来符合具有不同测试标准的电子产品。

在待测物进行冲击试验以前，为了模拟出待测物的冲击试验所预设的冲击条件(即瞬间加速度)，已知技术先以空的负载平台来进行冲击试验，并调整负载平台的落下高度、低处固定块的撞击面的硬度与负载平台所受到的向下压力三个参数来达到待测物所预设的冲击条件。在将冲击试验设备调整至所预设的冲击条件以后，再将待测物设置在负载平台上来进行冲击试验，以检视待测物在历经此冲击条件的后是否仍维持其正常的功能。

然而，由于空的负载平台与设置有待测物的负载平台两者的重最已经明显不同，所以通过空的负载平台仍无法将冲击试验设备的冲击条件调整至非常接近待测物所预设的冲击条件，这仍会在待测物的实际的冲击试验中造成误差。因此，已知技术乃是配重块设置在冲击试验设备的负载平台上来仿真待测物，以将冲击试验设备的冲击条件调整至待测物所预设的冲击条件。这样的作法将可减少电子产品的冲击试验所需要的样品数量，进而降低冲击试验所需的成本。

请参考图1A与图1B，其分别是已知技朮的一种冲击试验辅助治具的侧视示意图与俯视示意图。已知技朮的冲击试验辅助治具100包括多个配重块110、一限位块120及多个垂直锁合组件130，其中这些配重块110可设计具有不同的重量，而这些垂直锁合组件130分别包括一螺柱130a及多个螺丝130b。首先，选取重量总和几近于待测物的重量的多个配重块110。接着，将这些已经选好的配重块110由下而上依序堆栈在冲击试验设备的负载平台50上，并以限位块120压住这些配重块110，且通过垂直锁固组件130将限位块120锁合至负载平台50。

在将这些配重块110固定至负载平台50上以后，通过冲击试验设备对这些配重块110进行多次冲击试验，并调整负载平台50的落下高度、负载平台50所受到的向下压力与低处固定块(未绘示)的撞击面的硬度三个参数，使得冲击试验设备的冲击条件接近待测物所预设的冲击条件。接着，将待测物设置在负载平台50上，通过冲击试验设备来对待测物进行冲击试验，以检视待测物在历经上述冲击条件的后是否仍维持其正常的功能。

然而，就已知技朮的冲击试验辅助治具100而言，由于这些配重块110乃是以由下而上水平排列的方式堆栈于负载平台50上，使得负载平台50在撞击低处的固定块的过程中，位于负载平台50上的这些配重块110(特别是较薄的配重块110)容易受到外力而变形。由于变形后的配重块110具有弹性而失去刚体特性，这不利于提高冲击试验设备所提供的冲击条件的精确度。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种冲击试验辅助治具，用以仿真待测物来装置在负载平台上以进行冲击试验。

基于上述目的或是其它目的，本实用新型提出一种冲击试验的辅助治具，适于在利用一冲击试验设备来执行一待测物的冲击试验以前，预先设置在冲击试验设备的一负载平台上，以仿真待测物在负载平台上来进行冲击试验，此治具包括多数个配重块、一限位块、至少一水平锁固组件及至少一垂直锁固组件。这些配重块垂直且重迭地放置在负载平台上，使得每一配重块的一侧缘接触该负载平台。水平锁固组件锁合这些配重块。限位块水平地放置在这些配重块上，使得这些配重块位于限位块及负载平台之间，且每一配重块的一侧缘接触限位块。垂直锁固组件锁合限位块及负载平台。

在本实用新型的一实施例中，上述这些配重块的重量的总和随着待测物的重量来改变。

在本实用新型的一实施例中，上述这些配重块包括两种以上具有不同重量的配重块。

在本实用新型的一实施例中，上述这些配重块的材质是金属。

在本实用新型的一实施例中，上述限位块的材质是木材。

在本实用新型的一实施例中，上述水平锁固组件包括一螺柱及多个螺帽，而螺柱贯穿这些配重块，且这些螺帽分别耦合至螺柱，以锁合这些配重块。