[发明专利]一种测试通道共同与分立标定方法有效

专利信息
申请号: 200610030215.3 申请日: 2006-08-18
公开(公告)号: CN101126790A 公开(公告)日: 2008-02-20
发明(设计)人: 涂建坤;龚江疆 申请(专利权)人: 上海电缆研究所;上海赛克力光电缆有限责任公司
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08;G01R31/00;G01R35/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 200093上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 测试 通道 共同 分立 标定 方法
【权利要求书】:

1.一种测试通道共同与分立标定方法,其特征在于包括以下步骤:

a)将标准件连接到将作为公共标定通道的测试通道上;

b)计算机控制测试分设备通过控制线命令近端,远端接线架继电器矩阵完成N选一功能,将标准件所在的通道连接到公共测试通道上;

c)测试分设备完成公共标定通道的标定,将数据通过串行口传输给计算机进行处理,将此标定数据作为所有通道的标定结果;

d)将标准件连接到另一测试通道,重复步骤b,测试分设备完成该通道的测试,将数据通过串行口传输给计算机,用步骤c的标定结果计算该通道对标准件的测试结果;

e)重复步骤d,直至所有通道完成测试;

f)将各通道的测试数据与标准件的标准值进行比较,对偏差较大的通道进行单独标定,单独标定的数据仅对该标定通道有效。

2.按权利要求1所述的一种测试通道共同与分立标定方法,其特征在于:对测试数据雷同的通道可以进行共同标定。

3.按权利要求1所述的一种测试通道共同与分立标定方法,其特征在于:对于不同的测试项目,各测试通道需要重新进行公共与分立标定。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电缆研究所;上海赛克力光电缆有限责任公司,未经上海电缆研究所;上海赛克力光电缆有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610030215.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top