[发明专利]智能卡仿真器

说明书

技术领域

本发明涉及一种智能卡仿真器，特别是涉及一种可以仿真安检功能的智能卡仿真器。

背景技术

智能卡芯片作为一种高安全性的处理器芯片，对防止破解片内的用户程序(通常含有密钥等高安全级别的数据)有着很高的要求。针对常见的给芯片加高压或低压、高温或低温、以及打开芯片等获取芯片内用户程序的方法，通常会在智能卡芯片中设置一套安全机制，以硬件的形式在芯片内实现，称为安检模块。安检模块会自动实时监测高低压、高低温、光信号(打开芯片情况)，在发现异常状态时，自动置位某个寄存器位，并使用户程序无法继续工作，以防止攻击者得到芯片内的用户程序。在电压、温度等恢复正常后，用户程序可以重新开始工作。但是，由于芯片发现过攻击行为，被置位的那个寄存器位不会随芯片复位自动清除，重新工作的用户程序会发现这个位，了解到曾经发生的攻击行为，并根据设计要求对用户程序内的某些信息或数据进行保护或处理。这一过程对智能卡芯片中的用户程序保护自身数据的安全是非常重要的。因此，在用户程序使用智能卡仿真器的开发过程中需要真实的模拟和测试。但是，目前在智能卡仿真器的仿真芯片中安检模块通常是以与产品芯片中相同的方式实现的，也就是说，要触发仿真芯片内的安检模块使其检测到攻击行为，同样需要给仿真芯片加高低压、高低温、打开芯片(光检)。但是，与产品芯片中的用户程序不同，仿真芯片中的用户程序处于调试阶段，需要经常模拟出安检问题以供程序的调试使用。给仿真芯片加高低压、高低温很不方便，同时也易造成仿真芯片的损坏，而且把芯片打开(光检)必然会损坏仿真芯片。这样给用户使用仿真器调试用户程序中对安检出错时的处理程序部分造成了很大的不便。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种智能卡仿真器，可以较为真实的模拟安检出错的状态，便于对用户程序的调试，同时不会损坏仿真芯片。

为解决上述技术问题，本发明的智能卡仿真器包括仿真器控制模块和具有模拟安检模块的仿真芯片，所述控制模块由用户控制，用户可以根据程序调试需要通过控制模块经控制通道触发模拟安检模块，使其进入用户所需要的安检出错状态或退出安检出错状态。

由于采用本发明的智能卡仿真器，用户可以通过仿真器来对仿真芯片中的模拟安检模块进行触发，控制进入或退出安检出错状态，为用户调试用户程序中针对安检出错的处理程序部分提供了极大的便利，同时这种触发方式不会对仿真芯片造成损坏。除了触发方式不同外，仿真芯片内的模拟安检模块与产品芯片中的安检模块的功能完全一致，保证了仿真器可以较为真实的模拟出安检出错的过程和状态。不仅为用户提供了方便、灵活且非常真实的调试用户程序中针对安检出错的处理程序部分的手段，而且不会对仿真芯片造成损坏，有助于用户更方便、更准确、更有效地开发用户程序，减少仿真芯片损坏的风险，有利于智能卡产品更快地进入市场，同时保障其中用户程序的安全性。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1是本发明智能卡仿真器结构示意图；

图2是现有的智能卡产品芯片中安检模块的工作流程图；

图3是本发明智能卡仿真器中模拟安检模块的工作流程图。

具体实施方式

对用户而言，在调试安检出错的处理程序时，关心的不是芯片中安检模块监测到攻击行为并对相关寄存器位置位的实际过程，而是希望能方便的人为控制发生安检出错，并在用户程序恢复运行后，检测到相关寄存器位，以便于对用户程序中的相关部分进行调试。本发明正是利用了上述这些特点。

如图1所示，本发明的智能卡仿真器1包括仿真器控制模块2和仿真芯片4。仿真芯片4内具有模拟安检模块3。控制模块2由用户控制，该控制模块2通过控制通道5可以触发仿真芯片4内的模拟安检模块3进入或退出安检出错状态。

模拟安检模块3与产品芯片中的安检模块不同，触发模拟安检模块3进入安检出错的状态不需要实际对仿真芯片4加高低压、高低温或者打开芯片，而是完全由智能卡仿真器1中的控制模块2通过控制通道5对其进行触发，用户可以根据程序调试需要(调试哪一种安检出错)通过智能卡仿真器1对仿真芯片4的模拟安检模块3进行触发，使其进入用户所需要的安检出错状态。

比较图2、3可以看出，仿真芯片4内的模拟安检模块3与产品芯片中的安检模块相比，只是触发方式不同，在检测到安检出错后的处理过程是一致的。同样会在安检出错时，自动置位某个寄存器位，并使用户程序无法继续工作。并在智能卡仿真器1通过控制模块2控制模拟安检模块3退出出错状态，即模拟电压、温度等恢复正常后，用户程序可以重新开始工作，被置位的那个寄存器位会由模拟安检模块3采用硬件方式保持住，不会被自动清除，重新工作的用户程序可以发现这个位，了解到曾经发生的攻击行为。