[发明专利]一种火花源发射光谱分析用钢铁的低端校正样品

说明书

技术领域

本发明涉及一种火花源发射光谱分析用钢铁的低端校正样品，用于钢铁成分分析专用光谱仪的日常校准，该样品特别适用于生铁、低碳钢、中、低合金钢、不锈钢的光谱分析。

背景技术

火花源发射光谱分析仪以其快速、准确的特点在炼钢炉前分析中占据着极其重要的地位。为保证光谱仪分析的准确性而采取的主要技术手段是仪器每日或每班(8个工作时为一班)校正工作，校正时所需样品称为“校正样品”，即一种为日常光谱仪校正而专门设计、研制的样品。校正样品由二块或以上的样品组成样品组，样品组中各元素的低端、高端应涵盖该元素实际需要的测量范围(即要涵盖生铁、低碳钢、中、低合金钢、不锈钢这些产品的该元素的可能的上下限值)，并且需要使该样品组校正后的光谱分析仪测得的实际产品的元素测量值准确。

在传统的校正样品中，样品成份大多采用各合金元素交叉设计的方法，例如，北京钢铁研究总院研制的适用于中、低合金钢的两个校正样品，其成分见下表1：

表1

从上表1可以看出，在由1号和2号两个标准样品组成的样品组中，其中一个样品含有某个元素的低端，则另一个样品中则含有该元素的高端，也就是说，同一元素的高低端分别在不同样品中出现，不同元素的低端或高端交叉出现在样品组的不同样品中。

但是，随着钢铁产品所规定的次量元素种类的增加以及部分元素(如C、S、P、Pb、Sb、As、Sn、Bi、Nb、Ti、B、Zr、V等)向痕量方向的发展，交叉设计成份这种方法的缺陷凸现出来：

1、冶炼中样品低端含量元素目标成份控制困难；

2、通过该标准样品利用某元素的低端校正火花源发射光谱分析仪时，分析仪对该样品中各元素低端测定时易受该样品中同时存在的高含量元素的谱线干扰，因此校正可靠性较差，这种现象在高合金钢样品中更为显著；

3、样品中各元素低端大部分远高于火花源发射光谱的测定下限(而目前有些优质钢铁产品的次量元素的含量已与火花源发射光谱的测定下限大致相当)，上述缺陷严重限制了火花源发射光谱的较高灵敏度，无法实现多元素同时快速测定的优势。

近年来，为了克服上述传统样品在低端测量上的缺陷，国外仪器厂商一般直接采用高纯铁作校正样品中各元素的低端，配合相应种类的钢铁样品作为校正样品的高端，以满足用户实际需要的校正范围。例如，德国斯派克(SPECTRO)公司为某一碳钢、不锈钢生产用户配置了一种型号为RE12-9的高纯铁的低端校正样品，见下表2：

表2