[发明专利]高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法有效
申请号: | 200610024146.5 | 申请日: | 2006-02-24 |
公开(公告)号: | CN1810719A | 公开(公告)日: | 2006-08-02 |
发明(设计)人: | 曾宇平;丁书强;江东亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C04B35/584 | 分类号: | C04B35/584;C04B38/00;C04B35/622 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
地址: | 20005*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 强度 介电常数 二氧化硅 结合 氮化 多孔 陶瓷 制备 方法 | ||
【说明书】:
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