[发明专利]一种光电式大直径测量装置无效
申请号: | 200610016997.5 | 申请日: | 2006-07-07 |
公开(公告)号: | CN101101198A | 公开(公告)日: | 2008-01-09 |
发明(设计)人: | 艾华;李琳;韩旭东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人: | 赵炳仁 |
地址: | 130031吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 直径 测量 装置 | ||
一、技术领域
本发明属于光电检测技术领域中涉及的一种测量大口径的测量装置。
二、背景技术
所谓大直径,在工业界通常是指工件的直径(或称口径)在φ500mm以上,有些工件的直径在三米以上。例如:水轮机、汽轮机、大型发电机组、大型轴承圈等都属于大直径工件,举世瞩目的三峡工程中水轮发电机组的主轴上口尺寸为φ3050mm。
能够精确的测量大直径工件的几何尺寸,在工程施工过程中具有重要的价值和意义,对保证工程质量和施工进度往往起到决定性作用。因此,精确的测量大直径工件的尺寸,成为业内人士非常关注的问题。
长期以来国内外学者对此进行了大量的研究,尝试过多种测量方法,但一直没有太理想的仪器出现,对大直径工件的测量,基本上停留在传统的机械测量方法的水平上。例如用大型卡尺进行测量;用π尺进行测量;用电子卡尺进行测量;用座标机进行测量;利用滚轮测量被测件周长,然后算出直径等等。
与本发明最为接近的已有技术,是清华大学梁晋文教授开发的光电瞄准——干涉测量装置(《激光测量学》1998年科学出版社出版)如图1所示:包括被测工件1、定位块2、光电池3、准直激光器4、测量头5、五角棱镜6、光电池7、靶镜8、参考镜9、干涉仪激光头10。
测量时,首先将定位块2置于被测工件1的水平直径的一端,准直激光器4发出的激光束经五角棱镜6两次反射后垂直入射到定位块2的光电池3上,准直激光器4发出的光束经测量头5中的五角棱镜后分为两部分,一部分光线直接射向与五角棱镜6固定在一起的光电池7,形成基线,调整测量头的位置,使测量头在测量过程中相对于准直光线的位置保持不变;另一部分光线经五角棱镜6反射后与入射光线形成90°,形成瞄准基线,测量头沿导轨运动使该反射光线依次瞄准于被测工件1两测量端点处的定位块2上的光电池3的中心。恰好对准光电池3中心位置时,干涉仪清零开始计数,这时将定位块2移到对径位置并翻转180°,仍然使光电池向着五角棱镜方向,移动五角棱镜6直到再次使激光束落到光电池3中心,读出干涉仪的计数,减去定位块2翻转偏离值就可算出直径。
该测量装置存在的主要问题是:瞄准精度低;使用激光干涉仪,对使用环境要求高,不适用于施工现场使用;五角棱镜加工工艺难度大;系统成本高。
三、发明内容
为了克服已有技术存在的缺陷,本发明的目的在于简化测量装置结构和操作方法、降低成本,提高测量速度和工作效率,适应工业现场操作,特设计一种新的测量大直径工件的装置。
本发明要解决的技术问题是:提供一种光电式大直径测量装置。解决技术问题的技术方案如图2所示:包括被测工件11、测量系统有结构相同的定位块12和13、工作台14、光栅尺15、电缆导线16、数显箱17、光栅尺读数头18、光具座19、导轨20、安装块21和22。
其中定位块12和13结构完全相同,如图3和图4示:包括磁性块23、瞄准块24、瞄准狭缝25、指示灯26、线路板27、单片机28、放大器29和32、光敏二极管30和31、比较器33;光具座19的结构如图5所示:包括光具座底板34、壳体通光孔35、光具座壳体36、透镜37、激光器38、激光器支架39、激光器驱动电路板40。
结构相同的两个定位块12和13,通过它们的磁性块23安装在被测工件11的两侧的对径位置上,两个定位块上的瞄准狭缝25的朝向相同,它们的延长线在同一条直线上;两条导轨20平行的固定在工作台14的台面上,光栅尺15通过安装块21和22固定在工作台14的台面上,位于导轨20的外侧,使光栅尺15与导轨20平行,光具座19通过光具座底板34安装在导轨20上,能在两根导轨20上移动,光具座19的激光光路光轴与两根导轨20垂直,在工作时激光光路光轴对准定位块上的瞄准狭缝25;光栅尺读数头18与光具座底板34固连,并随光具座19的移动沿光栅尺15的长度方向移动,光栅尺读数头18通过电缆导线16与数显箱17的输入端连接。
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