[发明专利]用于集成电路器件的热沉和热接口以及冷却电阻器的方法有效
申请号: | 200610005833.2 | 申请日: | 2006-01-10 |
公开(公告)号: | CN1828877A | 公开(公告)日: | 2006-09-06 |
发明(设计)人: | 埃比尼泽·E.·埃尚;道格拉斯·D.·库尔鲍;埃德蒙得·J.·斯普洛吉斯;罗伯特·M.·拉塞尔;特伦斯·B.·胡克;安东尼·K.·斯坦珀;威廉·J.·墨菲 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L23/373 | 分类号: | H01L23/373 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 张浩 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成电路 器件 接口 以及 冷却 电阻器 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610005833.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:筛选蛋白质解离肽的双启动子酵母随机肽库的构建方法
- 下一篇:半导体器件