[发明专利]固体摄像元件以及暗电流分量除去方法有效
| 申请号: | 200580052448.7 | 申请日: | 2005-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN101352033A | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
| 发明(设计)人: | 樋口刚 | 申请(专利权)人: | 富士通微电子株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/335 | 分类号: | H04N5/335 |
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 赵淑萍 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 固体 摄像 元件 以及 电流 分量 除去 方法 | ||
1.一种固体摄像元件,使用了按照像素阵列的每个列而设置的模拟数字转换器,所述固体摄像元件的特征在于,包括:
基准信号生成部,生成从规定的初始信号电平以固定的斜率增加的基准信号;
比较部,对所述基准信号和像素信号进行比较;
计数部,进行与所述基准信号的增加同步的计数;
保持部,将所述基准信号和所述像素信号一致时的计数值保持为所述像素信号的量化值;
平均值计算部,计算出从多个遮光像素读出的所述像素信号的所述量化值的平均值;以及
基准信号调整部,以所述平均值为基础,设定与从受光像素读出的所述像素信号进行比较的所述基准信号的所述初始信号电平。
2.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述基准信号生成部具有以所述计数值为基础生成所述基准信号的数字模拟转换器,
所述基准信号调整部将所述平均值设定为所述计数部的计数初始值,将所述平均值中的所述基准信号的信号电平设定为所述受光像素读出时的所述初始信号电平。
3.如权利要求2所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述基准信号调整部设定在所述平均值上增加了规定裕度的所述计数初始值。
4.如权利要求3所述的固体摄像元件,其特征在于,所述基准信号调整部根据所述基准信号的斜率设定所述裕度。
5.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述基准信号生成部包括:在所述像素信号从所述遮光像素读出时生成所述基准信号的数字模拟转换器、以及在所述像素信号从所述受光像素读出时生成所述基准信号的恒定电流产生电路,
所述基准信号调整部以所述平均值为基础,来设定由所述恒定电流产生电路生成的所述基准信号的所述初始信号电平。
6.如权利要求5所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述基准信号调整部以在所述平均值上增加规定的裕度而得到的值为基础来设定所述初始信号电平。
7.如权利要求6所述的固体摄像元件,其特征在于,所述基准信号调整部根据所述基准信号的斜率来设定所述裕度。
8.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,所述初始信号电平的设定在每帧的所述受光像素开始读出前进行。
9.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,所述初始信号电平的设定每隔规定帧数进行一次。
10.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述平均值计算部计算出比受光像素区域先读出的遮光像素区域中的所述平均值。
11.如权利要求1所述的固体摄像元件,其特征在于,
所述平均值计算部计算出配置在所述像素阵列的多个位置的遮光像素区域中的所述平均值。
12.一种固体摄像元件的暗电流分量除去方法,其特征在于,
对从像素阵列读出的遮光像素的像素信号与同计数值同步并从规定的初始信号电平以固定的斜率增加的基准信号进行比较,以一致时的所述计数值为基础,取得所述遮光像素中的所述像素信号的量化值,
计算出多个所述遮光像素的所述量化值的平均值,
以所述平均值为基础,设定与从所述像素阵列读出的受光像素的所述像素信号进行比较的所述基准信号的所述初始信号电平,
对以所述平均值为基础而设定的所述初始信号电平的所述基准信号与所述受光像素的所述像素信号进行比较,以一致时的所述计数值为基础来取得在所述受光像素中的所述像素信号的所述量化值。
13.如权利要求12所述的暗电流分量除去方法,其特征在于,在所述平均值上增加规定的裕度。
14.如权利要求13所述的暗电流分量除去方法,其特征在于,根据所述基准信号的斜率设定所述裕度。
15.如权利要求12所述的暗电流分量除去方法,其特征在于,所述初始信号电平的设定在每帧的所述受光像素开始读出前进行。
16.如权利要求12所述的暗电流分量除去方法,其特征在于,所述初始信号电平的设定每隔规定帧数进行一次。
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