[发明专利]光电二极管、固体拍摄装置及其制造方法有效
| 申请号: | 200580051461.0 | 申请日: | 2005-08-31 | 
| 公开(公告)号: | CN101253635A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 | 
| 发明(设计)人: | 片山雅也 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 | 
| 主分类号: | H01L31/10 | 分类号: | H01L31/10;H01L27/146 | 
| 代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张龙哺 | 
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电二极管 固体 拍摄 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种光电二极管,形成在硅衬底上,其特征在于,具有:
受光区域,其形成在所述硅衬底表面,并由形成pn结合的第一导电型的扩散区域构成,
中间区域,其以位于所述受光区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,
接触区域,其以位于所述中间区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,
密封层,其形成在所述硅衬底表面的所述中间区域外侧部分,并由第二导电型的扩散区域构成,
电极,其形成在所述硅衬底表面,并与所述接触区域接触;
所述密封层与构成所述中间区域的扩散区域的侧端部相对向。
2.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述密封层与所述侧端部接合。
3.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述中间区域具有比所述受光区域更高的杂质浓度,所述接触区域具有比所述中间区域更高的杂质浓度。
4.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述受光区域在其下面形成所述pn结合,而且在与所述密封层之间也形成所述pn结合。
5.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,还包括形成在所述硅衬底上的绝缘膜,在所述绝缘膜中,以与所述接触区域匹配的方式形成有接触孔,所述电极由导电插件构成,所述导电插件通过所述接触孔与所述接触区域接触。
6.一种固体拍摄装置,形成在硅衬底上,其特征在于,
所述光电二极管具有:
受光区域,其形成在所述硅衬底表面,并由形成pn结合的第一导电型的扩散区域构成,
中间区域,其以位于所述受光区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,
接触区域,其以位于所述中间区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,
密封层,其形成在所述硅衬底表面的所述中间区域外侧部分,并由第二导电型的扩散区域构成,
电极,其形成在所述硅衬底表面,并与所述接触区域接触;
所述密封层与构成所述中间区域的扩散区域的侧端部相对向;
在所述硅衬底上,集成有CMOS电路。
7.一种光电二极管的制造方法,用于在硅衬底上制造光电二极管,其特征在于,包括:
在所述硅衬底上所划分的第一元件区域,形成第一导电型的扩散区域而作为受光区域的工序;
在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,形成第二导电型的扩散区域而作为密封层的工序;
在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,以与所述密封层的一部分重叠的方式,形成所述第一导电型的扩散区域而作为中间区域的工序;
在所述硅衬底上形成层间绝缘膜的工序;
在所述层间绝缘膜上,对应于所述中间区域的一部分,形成通孔的工序;
在所述硅衬底上,将所述层间绝缘膜作为掩模,通过所述通孔导入所述第一导电型的杂志元素,由此在所述中间区域的所述硅衬底的表面,形成由第一导电型的扩散区域构成的接触层的工序;
利用导电材料填充所述通孔,由此形成与所述接触层接触的电极的工序。
8.根据权利要求7所记载的固体拍摄元件的制造方法,用于在硅衬底上制造固体拍摄元件,其特征在于,包括:
在所述硅衬底上所划分的第一元件区域,形成第一导电型的扩散区域而作为受光区域的工序,
在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,形成第二导电型的扩散区域而作为密封层的工序,
在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,以与所述密封层的一部分重叠的方式,形成所述第一导电型的扩散区域而作为中间区域的工序,
在所述硅衬底上的第二元件区域形成半导体元件的工序,
在所述硅衬底上,以覆盖所述半导体元件的方式形成层间绝缘膜的工序,
在所述层间绝缘膜上,对应于所述中间区域的一部分,形成通孔的工序,
在所述硅衬底上,将所述层间绝缘膜作为掩模,通过所述通孔导入所述第一导电型的杂志元素,由此在所述中间区域的所述硅衬底的表面,形成由第一导电型的扩散区域构成的接触层的工序,
利用导电材料填充所述通孔,由此形成与所述接触层接触的电极的工序;
以使所述层间绝缘膜覆盖所述半导体元件的方式,执行形成所述层间绝缘膜的工序。
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