[发明专利]光电二极管、固体拍摄装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200580051461.0 申请日: 2005-08-31
公开(公告)号: CN101253635A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 片山雅也 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;H01L27/146
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 张龙哺
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光电二极管 固体 拍摄 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电二极管,形成在硅衬底上,其特征在于,具有:

受光区域,其形成在所述硅衬底表面,并由形成pn结合的第一导电型的扩散区域构成,

中间区域,其以位于所述受光区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,

接触区域,其以位于所述中间区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,

密封层,其形成在所述硅衬底表面的所述中间区域外侧部分,并由第二导电型的扩散区域构成,

电极,其形成在所述硅衬底表面,并与所述接触区域接触;

所述密封层与构成所述中间区域的扩散区域的侧端部相对向。

2.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述密封层与所述侧端部接合。

3.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述中间区域具有比所述受光区域更高的杂质浓度,所述接触区域具有比所述中间区域更高的杂质浓度。

4.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,所述受光区域在其下面形成所述pn结合,而且在与所述密封层之间也形成所述pn结合。

5.根据权利要求1所记载的光电二极管,其特征在于,还包括形成在所述硅衬底上的绝缘膜,在所述绝缘膜中,以与所述接触区域匹配的方式形成有接触孔,所述电极由导电插件构成,所述导电插件通过所述接触孔与所述接触区域接触。

6.一种固体拍摄装置,形成在硅衬底上,其特征在于,

所述光电二极管具有:

受光区域,其形成在所述硅衬底表面,并由形成pn结合的第一导电型的扩散区域构成,

中间区域,其以位于所述受光区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,

接触区域,其以位于所述中间区域的方式形成在所述硅衬底表面,并由所述第一导电型的扩散区域构成,

密封层,其形成在所述硅衬底表面的所述中间区域外侧部分,并由第二导电型的扩散区域构成,

电极,其形成在所述硅衬底表面,并与所述接触区域接触;

所述密封层与构成所述中间区域的扩散区域的侧端部相对向;

在所述硅衬底上,集成有CMOS电路。

7.一种光电二极管的制造方法,用于在硅衬底上制造光电二极管,其特征在于,包括:

在所述硅衬底上所划分的第一元件区域,形成第一导电型的扩散区域而作为受光区域的工序;

在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,形成第二导电型的扩散区域而作为密封层的工序;

在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,以与所述密封层的一部分重叠的方式,形成所述第一导电型的扩散区域而作为中间区域的工序;

在所述硅衬底上形成层间绝缘膜的工序;

在所述层间绝缘膜上,对应于所述中间区域的一部分,形成通孔的工序;

在所述硅衬底上,将所述层间绝缘膜作为掩模,通过所述通孔导入所述第一导电型的杂志元素,由此在所述中间区域的所述硅衬底的表面,形成由第一导电型的扩散区域构成的接触层的工序;

利用导电材料填充所述通孔,由此形成与所述接触层接触的电极的工序。

8.根据权利要求7所记载的固体拍摄元件的制造方法,用于在硅衬底上制造固体拍摄元件,其特征在于,包括:

在所述硅衬底上所划分的第一元件区域,形成第一导电型的扩散区域而作为受光区域的工序,

在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,形成第二导电型的扩散区域而作为密封层的工序,

在所述硅衬底的表面,对应于所述受光区域,以与所述密封层的一部分重叠的方式,形成所述第一导电型的扩散区域而作为中间区域的工序,

在所述硅衬底上的第二元件区域形成半导体元件的工序,

在所述硅衬底上,以覆盖所述半导体元件的方式形成层间绝缘膜的工序,

在所述层间绝缘膜上,对应于所述中间区域的一部分,形成通孔的工序,

在所述硅衬底上,将所述层间绝缘膜作为掩模,通过所述通孔导入所述第一导电型的杂志元素,由此在所述中间区域的所述硅衬底的表面,形成由第一导电型的扩散区域构成的接触层的工序,

利用导电材料填充所述通孔,由此形成与所述接触层接触的电极的工序;

以使所述层间绝缘膜覆盖所述半导体元件的方式,执行形成所述层间绝缘膜的工序。

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