[发明专利]用于多层记录载体的多光斑检测器装置无效

专利信息
申请号: 200580043829.9 申请日: 2005-12-13
公开(公告)号: CN101084542A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: J·H·M·斯普鲁特;H·C·F·马滕斯;S·斯塔林加;P·H·沃尔利 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/13;G11B7/24
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 多层 记录 载体 光斑 检测器 装置
【权利要求书】:

1.一种用于检测由主光束和多个副光束在多层记录载体上的反射而产生的辐射图案的检测器装置,所述检测器装置包括:

主光束检测器装置(20-1),其用于检测从所述多层记录载体反射的所述主光束;

一对第一副光束检测器装置(20-2a、20-2b),其布置在所述主光束检测器装置(20-1)的相对侧,并与所述主光束检测器装置(20-1)相隔第一预定距离,并设置为用于检测所述多个副光束的各自的第一对副光束;以及

一对第二副光束检测器装置(20-3a、20-3b),其布置在所述主光束检测器装置(20-1)的相对侧,并与所述主光束检测器装置(20-1)相隔第二预定距离,并设置为用于检测所述多个副光束的各自的第二对副光束。

2.如权利要求1所述的检测器装置,其中所述第二副光束检测器装置每个都包括用于获得聚焦误差信号的四象限检测器元件(A、B、C、D),并且其中所述第二预定距离大于所述第一预定距离。

3.如权利要求1或2所述的检测器装置,其中所述第一副光束检测器装置每个都包括两个一半的检测器元件(A、B)以获得推挽跟踪误差信号。

4.一种用于多层记录载体的拾取设备,包括:根据权利要求1到3中任意一个的检测器装置,用于向所述多层记录载体发射辐射光束的辐射源(30),以及用于将所述辐射源(30)发射的辐射光束分成所述主光束和所述多个副光束并将所述主光束和所述副光束辐射到所述多层记录载体的分束装置(40)。

5.如权利要求4所述的设备,其中所述分束装置(40)包括衍射光栅。

6.一种用于提供对多层记录载体的访问的驱动设备,所述驱动设备包括如权利要求4或5所述的拾取设备。

7.如权利要求6所述的设备,其中所述分束装置(40)适合于产生与所述主光束成第一预定角度的第一对副光束,并产生与所述主光束成第二预定角度的第二对副光束。

8.如权利要求7所述的设备,其中将所述第一预定角度选择成使所述第一对副光束与所述主光束之间的光程差为零或者为所述辐射源(30)的辐射波长的整数倍,并且其中将所述第二预定角度选择成使所述第二对副光束与所述主光束之间的光程差为所述辐射波长的一半或者为所述辐射波长的一半的奇数倍。

9.如权利要求8所述的设备,其中所述分束装置(40)适合于按照使所述第一对副光束照射到所述多层记录载体的下部信息层(L1)的凹槽之间的方式来产生所述第一对副光束,并且按照使所述第二对副光束照射到所述多层记录载体的下部信息层(L1)的各个凹槽上的方式来产生所述第二对副光束。

10.如权利要求4至9中任意一个所述的设备,进一步包括聚焦误差确定装置(22)和跟踪误差确定装置(24),所述聚焦误差确定装置用于通过将从所述主检测器装置(20-1)获得的聚焦误差信号(FEc)的值与从所述第二对副光束检测器装置(20-3a、20-3b)获得的聚焦误差信号(FEa,FEb)之和得到的值相加来计算聚焦误差(FE),所述跟踪误差确定装置用于通过从所述主检测器装置(20-1)获得的跟踪误差信号(PPc)的值中减去从所述第一对副光束检测器装置(20-2a、20-2b)获得的跟踪误差信号(PPa、PPb)之和得到的值来计算跟踪误差(PP)。

11.如权利要求4至9中任意一个所述的设备,进一步包括计算装置(26),其用于通过从所述主检测器装置(20-1)获得的输出信号的值中减去从所述第二对副光束检测器装置(20-3a、20-3b)获得的输出信号之和得到的值来计算串扰值(CC)。

12.如权利要求10所述的设备,进一步包括调整装置(28),其用于根据所述串扰值(CC)对所述驱动设备的读出信号的包络进行调整。

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