[发明专利]用于线性和旋转感测应用的位置检测装置和方法

权利要求书

1.一种用于线性和旋转感测应用的位置探测系统，所述系统包括：

多个磁阻感测组件，用于线性和旋转探测感测；和

CMOS集成电路，用于放大和校准由所述多个磁阻感测组件产生的信号，以便提供完全数字校准和比例输出电压，或表示线性和旋转位置数据的数字输出信号。

2.权利要求1所述的系统，其中所述CMOS集成电路包括ASIC。

3.权利要求1所述的系统，其中所述多个磁阻感测组件包括用于产生位置测量数据的至少两个ARM桥。

4.权利要求1所述的系统，其中所述多个磁阻感测组件包括用于产生位置测量数据的八个ARM桥。

5.权利要求4所述的系统，其中所述CMOS集成电路还包括用于温度测量和对来自所述八个AMR桥的数据输入的误差校正的内部温度索引装置。

6.权利要求4所述的系统，其中所述CMOS集成电路还包括输入多路复用电路，用于对用于位置确定的所述八个AMR桥中的特定AMR桥产生的数据进行采样。

7.权利要求4所述的系统，其中所述CMOS集成电路还包括模数转换器，用于相对于相关的电源电压转换放大的信号。

8.权利要求4所述的系统，其中所述CMOS集成电路还包括EEPROM，其中存储用于所述八个AMR桥的至少一个校准系数。

9.权利要求8所述的系统，还包括计算由所述八个AMR桥中的至少一个AMR桥产生的归一化桥输出值的控制器。

10.权利要求9所述的系统，其中关于位置的信息从所述归一化桥输出值确定。

11.权利要求1所述的系统，还包括主从电路，其允许当所述多个磁阻组件包括多于八个AMR桥的时候，多个CMOS集成电路以菊花链连接在一起。

12.权利要求11所述的系统，其中所述多个CMOS集成电路中的至少一个CMOS集成电路包括从所述多个CMOS集成电路中的至少一个从集成电路请求位置信息的主集成电路。

13.一种用于线性和旋转感测应用的位置探测系统，所述系统包括： 

用于线性和旋转探测感测的多个AMR桥；

ASIC，用于放大和校准由所述多个AMR桥产生的信号，以便提供完全数字校准和比例输出电压，或表示线性和旋转位置数据的数字输出信号，其中所述ASIC包括：

用于温度测量和来自所述多个AMR桥的数据输入的误差校正的内部温度索引装置；

输入多路复用电路，用于对用于位置确定的所述多个AMR桥中的特定AMR桥产生的数据进行采样；

模数转换器，用于相对于相关的电源电压转换放大的信号；

EEPROM，其中存储用于所述多个AMR桥的校正系数；

控制器，计算由所述多个AMR桥中的至少一个AMR桥产生的归一化桥输出值，其中位置信息从所述归一化桥输出值确定；和

主从电路，其允许当所述多个ARM桥包括多于八个AMR桥的时候，多个ASIC以菊花链连接在一起。

14.一种用于线性和旋转感测应用的位置探测方法，包括以下步骤：

提供用于线性和旋转感测的多个磁阻感测组件；

将CMOS集成电路与所述多个磁阻感测组件相关联；

通过所述CMOS集成电路，自动放大和校准由所述多个磁阻感测组件产生的信号，以便提供完全数字校准和比例输出电压，或表示线性和旋转位置数据的数字输出信号。

15.权利要求14所述的方法，还包括配置所述CMOS集成电路以包括ASIC的步骤。

16.权利要求14所述的方法，还包括配置所述多个磁阻感测组件以包括用于产生位置测量数据的八个AMR桥的步骤。

17.权利要求16所述的方法，还包括配置所述CMOS集成电路以包括用于温度测量和来自所述八个AMR桥的数据输入的误差校正的内部温度索引装置。