[发明专利]对集成电路的物理工作参数进行监视

权利要求书

1.一种集成电路，包括：

逐步逼近的模数转换电路，其中包括用于形成相应检测结果的多个检测 电路(12)，这些结果指示的是相应的模拟物理工作参数高于还是低于数字逼 近数据所表示的参数值，以及更新电路(14)，用于根据检测结果来对数字逼 近数据执行逐步更新，由此经过逐步更新的数字逼近数据将会聚为实际表示 模拟物理工作参数的数字值；

串行移位寄存器电路(11)，该电路具有与用于提供数字逼近数据的多个 检测电路(12)相耦合的并行输出，与用于接收检测结果的多个检测电路(12) 相耦合的并行输入，以及与用于提供检测结果以及为相应检测电路逐步更新 数字逼近数据的更新电路(14)相耦合的并行输入/输出，由此更新电路(14)被 多个检测电路所共享。

2.根据权利要求1的集成电路，其中数字逼近数据代表的是一个近似数字， 并且其中更新电路(14)包括一个与串行移位寄存器相耦合的加法器电路 (32)，该加法器电路(32)被设置成将受检测结果控制的步长数字与所述近似 数字相加，以便用所述相加的结果来替换串行移位寄存器电路(30)中的数字 逼近数据。

3.根据权利要求2的集成电路，其中设置更新电路，以使检测结果在两个预 定步长值之间选择步长值。

4.根据权利要求2的集成电路，包括与更新电路相耦合的控制单元(36)，它 被设置成选择一组步长值，其中检测信号从这组步长值中选择步长数字。

5.根据权利要求1的集成电路，其中更新电路被设置成支持多种类型的更 新，该集成电路包括一个控制单元(36)，设置控制单元对使用哪一种更新来 为相应检测电路(12)更新数字逼近数据进行控制，其中该控制单元(36)根据 关于相应检测电路(12)的相应信息来选择更新类型。

6.根据权利要求5的集成电路，其中设置检测电路(12)向串行移位寄存器 (20、50、30、54)提供关于相应检测电路(12)的相应信息，并且其中设置该 控制单元(36)以从串行移位寄存器(20、50、30、54)那里获取相应检测电路(12) 的信息。

7.根据权利要求1的集成电路，其中至少有一部分检测电路(12)各自具有相 应的控制输入端，以便控制所检测的集成电路相关参数的检测模式，其中所 述至少一部分检测电路的控制输入端与串行移位寄存器(20，60)相耦合，以 便借助来自串行移位寄存器(20，60)的信息来控制所述模式。

8.根据权利要求1的集成电路，其中至少有一部分检测电路(12)各自包含了 数模转换电路(22)、参数敏感电路(24)以及比较器电路(26)，其中比较器电路 的输入端与数模转换电路(22)以及参数敏感电路(24)的输出端相耦合，并且 比较器电路(26)的输出端与串行移位寄存器电路(20，28)相耦合，以便向串行 移位寄存器电路(20，28)提供检测结果。

9.根据权利要求1的集成电路，包括外部连接端子(16)以及与外部连接端子 (16)和串行移位寄存器(11)相耦合的控制电路(14)，其中该控制电路(14)可以 在循环模式与外部访问模式之间进行切换，在循环模式中，该控制电路(14) 将来自串行移位寄存器电路(11)的串行输出端的数据经由循环模式更新电路 反向耦合到串行移位寄存器电路的输入端，在外部访问模式中，控制电路 (14)将来自外部连接端子(16)的数据耦合到串行移位寄存器电路(11)的输入 端。

10.根据权利要求1的集成电路，其中由相应检测电路(12)检测的物理工作参 数包括集成电路中的本地温度、电源噪声强度、传绕强度以及时钟抖动之一。

11.一种用于测量集成电路中的多个物理工作参数的方法，该方法包括： 向各个检测电路(12)提供表示基准值的数字；

使用每一个检测电路(12)来检测相应物理工作参数相对于提供给检测电路 (12)的相应基准值的相对值；

在所述检测电路(12)之间共享逐步逼近更新电路，以便根据相应的检测相对 值来依次更新表示基准值的数字，由此每一个数字都是相应更新数字序列的 一部分，其中该序列将会会聚到一个近似于相应物理工作参数表示的值。