[发明专利]光拾取装置无效

专利信息
申请号: 200580039192.6 申请日: 2005-09-16
公开(公告)号: CN101061538A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: 西本雅彦;河内泰之;井岛新一;奥田拓也;小野将之 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/09
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 拾取 装置
【权利要求书】:

1、一种光拾取装置,根据光信息记录介质的类别,用不同波长的光对信息进行记录、再生,

具备:

半导体激光元件,其选择地输出波长不同的两种光束;

全息元件,其使光信息记录介质所反射的光束衍射;

六个受光元件,其接收全息元件所衍射的光束,并且进行光电变换;和

输出电路,其根据受光元件的输出信号生成并输出跟踪误差信号,

由光信息记录介质所反射的光束,按每个波长在全息元件上的不同位置具有强度中心点,

由连结两个强度中心点的直线、和在强度中心点与该直线垂直的两条直线,将全息元件划分为六个区域,

在全息元件的不同区域所衍射的光束由不同的受光元件接收。

2、根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

输出电路,按照划分全息元件的三条直线中、由连结两个强度中心点的直线和通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所划分的每四个区域,将接收了衍射光束的受光元件的信号相加,根据该相加后的信号生成并且输出跟踪误差信号。

3、根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

还具备:

衍射光栅,其在从半导体激光元件至光信息记录介质的光路上,将光束衍射为0级次衍射光和±1级次衍射光;和

三个跟踪用受光元件,其接收光信息记录介质所反射的±1级次衍射光的由全息元件所产生的衍射光,并进行光电变换,

在全息元件上,由在强度中心点与连结两个强度中心点的直线垂直的两条直线所划分的三个区域所衍射的±1级次衍射光,入射到不同的三个跟踪用受光元件。

4、根据权利要求3所述的光拾取装置,其特征在于,

输出电路,根据

按照划分全息元件的三条直线中、由连结两个强度中心点的直线和通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所划分的每四个区域将接收了衍射光束的受光元件的信号相加后的信号,和

按照划分全息元件的三条直线中的、由与连结两个强度中心点的直线垂直并且通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所划分的每两个区域将来自跟踪用受光元件的信号相加后的信号,

生成并且输出跟踪误差信号。

5、根据权利要求3所述的光拾取装置,其特征在于,

衍射光栅,由大致平行的两条直线划分为中央部分和其外侧部分,

0级次衍射光的衍射效率,中央部分比外侧部分高,

形成在外侧部分的光栅与边界的两条直线斜交。

6、根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

还具备:聚焦用受光元件,接收光束由衍射光栅产生的0级次衍射光的再由全息元件产生的-1级次衍射光,并且进行光电变换,

输出电路,根据聚焦用受光元件所输出的信号来生成并且输出聚焦误差信号。

7、根据权利要求6所述的光拾取装置,其特征在于,

全息元件上的六个区域分别由衍射角不同的两种部分区域构成,

两种部分区域,形成相对半导体激光元件的发光点而相互点对称的光束斑,

聚焦用受光元件,接收在六个受光元件上形成的光束斑中,相对半导体激光元件的发光点为点对称的光束斑。

8、根据权利要求4所述的光拾取装置,其特征在于,

还具备:

切换电路,其用于

按照划分全息元件的三条直线中、由连结两个强度中心点的直线和通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所划分的每四个区域、将来自接收了衍射光束的受光元件的信号进行加法运算,并且

按照划分全息元件的三条直线中、与连结两个强度中心点的直线垂直且通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所划分的每两个区域、将来自跟踪用受光元件的信号进行加法运算。

9、根据权利要求4所述的光拾取装置,其特征在于,

对划分全息元件的三条直线中、由与连结两个强度中心点的直线垂直并且通过与光信息记录介质的类别相对应的波长的光束的强度中心点的直线所夹持的区域所衍射的光束进行接收的受光元件及跟踪用受光元件,按照光信息记录介质的类别,分离为互相不同的部分。

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