[发明专利]用于确定位于容器内的产品的完整性的方法有效
申请号: | 200580038014.1 | 申请日: | 2005-11-07 |
公开(公告)号: | CN101061373A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | B·霍伊夫特 | 申请(专利权)人: | 霍伊夫特系统技术有限公司 |
主分类号: | G01F23/00 | 分类号: | G01F23/00;G01F23/288;G01F23/26;B07C5/34;G07C3/14 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 谢志刚 |
地址: | 德国布*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 位于 容器 产品 完整性 方法 | ||
1.用于确定位于容器内的产品的完整性的方法,其中,借助第一种测量方法测定容器内产品的一预定特征,在该测量方法中检查产品的一个第一物理特性,其特征在于,附加地至少还直接或者借助第二种测量方法测定所述预定特征,该第二种方法基于一个第二物理特性,该第二物理特性不同于第一物理特性,并且,将借助这两种方法测到的预定特征的值进行比较,以及,将这两个测定值之差与一阈值进行比较,如果这两个测定值之差超过该阈值,则这被看作为产品的完整性受到损伤的暗示。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述容器是瓶子(10),所述产品是瓶子中的饮料并且所述预定特征是装灌高度,其中,第一种测量方法在于,借助伦琴射线的吸收来测量装灌高度,而第二种方法在于,测量高频振荡电路(36)的谐振频率的由瓶子引起的变化。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,附加地在一个明显位于瓶子的装灌高度下方的区域内,借助伦琴射线辐射确定由产品的吸收或者借助高频确定产品的介电常数。
4.如权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,将用第一种方法测定的许多产品的预定特征的平均值与用第二种方法测定的该特征的平均值彼此进行比较。
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