[发明专利]光学检测器结构以及在单片集成光电装置中作为反馈控制的应用有效
| 申请号: | 200580035638.8 | 申请日: | 2005-10-19 |
| 公开(公告)号: | CN101283300A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
| 发明(设计)人: | 大卫·佩德;卡尔潘都·夏斯特里;罗伯特·蒙哥马利;普拉卡什·约托斯卡;威普库马·帕特尔;玛丽·纳多 | 申请(专利权)人: | 斯欧普迪克尔股份有限公司 |
| 主分类号: | G02B6/12 | 分类号: | G02B6/12;G02B6/10 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 霍育栋;郑霞 |
| 地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 检测器 结构 以及 单片 集成 光电 装置 作为 反馈 控制 应用 | ||
1. 一种单片光电反馈装置,其用于控制绝缘体上硅(SOI)结构中形成的至少一个光学设备中的光,所述单片光反馈装置形成在相同的所述绝缘体上硅结构中,并且包括:
至少一个光学检测设备,其设置成接收传播通过所述至少一个光学设备的光信号的一部分,以测量来自所述至少一个光学设备的输出光信号功率;以及
控制电子器件模块,其响应于来自所述至少一个光学检测设备的所述输出信号,将所述测量的输出信号功率与预定的值进行比较,以及基于所述比较将反馈控制信号施加到所述至少一个光学设备。
2. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述装置还包括光学耦合波导,所述光学耦合波导设置在所述至少一个光学检测设备和所述至少一个光学设备之间,以使所述传播的光信号的一部分引出来,并将所述引出来的部分耦合进所述至少一个光学检测设备的输入中。
3. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述至少一个光学检测设备包括沿所述至少一个光学设备的输出波导设置的内嵌光学检测设备。
4. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述装置还包括模拟/数字转换器,所述模拟/数字转换器设置在所述至少一个光学检测设备的输出和所述控制电子器件模块的输入之间,用于将测量的模拟信号值转换为由所述控制电子器件模块使用的数字表示。
5. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述装置还包括存储模块,所述存储模块包括设置于所述绝缘体上硅结构中并连接至所述控制电子器件的查找表,所述查找表存储由所述控制电子器件使用的期望的光功率值。
6. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述装置还包括用于在所述控制电子器件和外部控制电路之间传输/接收信号的通信接口。
7. 根据权利要求6所述的单片光电反馈装置,其中,所述通信接口提供用于将初始值存储于所述控制电子器件中的输入通信路径。
8. 根据权利要求6所述的单片光电反馈装置,其中,所述通信接口提供用于询问所述控制电子器件以确定其性能的输出通信路径。
9. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述至少一个光学设备包括多个光学设备。
10. 根据权利要求9所述的单片光电反馈装置,其中,所述装置还包括用于控制所述多个光学设备和所述控制电子器件之间的所述接口的电子选择器。
11. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述至少一个光学检测设备包括一对光学检测设备。
12. 根据权利要求11所述的单片光电反馈装置,其中,所述一对光学检测设备中的第一光学检测设备沿所述绝缘体上硅结构中的输入光波导部分设置,以及余下的第二光学检测设备沿所述绝缘体上硅结构中的输出光波导部分设置。
13. 根据权利要求12所述的单片光电反馈装置,其中,所述光学设备包括至少一个光学滤波器,所述至少一个光学滤波器设置在所述第一和第二光学检测设备之间,所述反馈装置用于执行波长滤波反馈控制。
14. 根据权利要求12所述的单片光电反馈装置,其中,所述光学设备包括至少一个光学波长阻挡设备,其设置在所述第一和第二光学检测设备之间,所述反馈装置用于调整要阻挡的选择的波长。
15. 根据权利要求12所述的单片光电反馈装置,其中,所述光学设备包括至少一个可变光学衰减器,所述至少一个可变光学衰减器设置于所述第一和第二光学检测设备之间,所述反馈装置用于执行衰减调节反馈控制。
16. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,光学设备包括光学调制器,其中控制元件输出连接到所述光学调制器的移相部分。
17. 根据权利要求1所述的单片光电反馈装置,其中,所述光学设备包括至少一个光学耦合器,其中所述反馈装置用于调节所述光学耦合器和所述至少一个光学设备之间的耦合效率。
18. 根据权利要求17所述的单片光电反馈装置,其中,所述至少一个光学耦合器包括光学棱镜耦合器,其中控制元件输出用于控制光信号相对于所述光学棱镜耦合器的方向和/或位置。
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