[发明专利]图形重新检验用户设置界面无效

专利信息
申请号: 200580014121.0 申请日: 2005-05-20
公开(公告)号: CN101297294A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 唐·W·科克伦;弗雷德里克·F·阿维格二世;凯文·E·巴蒂;杰西·布赫;戴维·W·科克伦;帕特里克·吉利兰;诺埃尔·E·摩根;托马斯·H·帕隆博;蒂莫西·西尔路易斯;迈克尔·L·约德 申请(专利权)人: 派拉斯科技术公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01N21/88
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 王允方;刘国伟
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 图形 重新 检验 用户 设置 界面
【说明书】:

本申请案主张优先于及基于2004年5月21日提出申请的第60/573,496号美国临时申请案的权利,该申请案的全文以引用方式并入本文中。

技术领域

发明涉及一种用于设置及优化一自动化工业成像检验系统或其它类型的检验或过程监控系统的方法。

背景技术

自动化工业检验及过程监控技术常常会在设置及优化方面向人们提出巨大的挑战。在自动化或半自动化高生产量工厂环境中,可并入自动化检验技术来监控各种各样的产品或过程属性。例如尺寸、孔的数量及位置、形状、螺距等许多要求具有高度的可明确界定性。这些定量值更易于在生产之前通过推理知识加以设定。而其它类型的产品或过程属性则具有高得多的主观性并常常无法容易地加以量化、测量或在开始生产之前加以规定。这些属性往往与原材料或生产过程本身的波动有关。其几个实例可为密封剂化合物中下沉处的大小、儿童的讲话玩具的声音品质、席子表面的污迹、或者图像的模糊。这些主观性属性存在成千上万种实例,其必须在制造环境中在进行过程中加以监控。尽管可在实验室中对其中的每一种属性进行量化,然而在线监控系统常常具有较低的灵敏性且设计成更切实际地以实时的在线速度工作。尽管通常存在某种书面技术规范,然而在工厂中解释所述规范时通常存在相当大程度的判断主观性。工厂经理与品质控制经理在特定的一批产品是否适合发运方面存在明显分歧的情况也并不少见。

通过发运来提高收益的实用主义将常常会战胜要使所发运的产品更加完美的更理想化的要求。有时,品质期望值的水平是带有文化性的,且其会直接影响在一特定区域中对品质期望值的影响。而有时品质期望值的水平则取决于品质标准及买方的期望值。还有一些时候,根据市场上原意为所述产品支付的价格,产品的最终消费者将决定最终的品质水平。所有这些不同的质量期望值与一特定过程或原材料的固有品质问题相结合,使得需要根据当前的需要来决定自动化检验或过程监控的水平。

有许多原因使得可能需要调节过程监控或检验的品质水平,但众所周知,在全世界数以十万计的加工及制造工厂中存在此种需要。本发明是一种图形方法,其提供一种用于理解及改动这些参数的更具用户友好性且更直观的方式。

当对检验或监控参数作出改动时,立即想到的问题通常是“此种改动将对收益产生何种影响?”。对品质阈值作出改动通常将意味着一不同品质的产品将被废弃或者重新加工或循环利用。因此,所作出的改动品质水平的决定会在经济方面产生直接的影响。无论谁负责作出此种改动,均将通常希望得到可能关于此种改动将在收益或经济方面产生何种影响的最直接的反馈。本发明有利于使人们一目了然地理解此种改动在经济方面及其它方面的影响或者可提供能使人们迅速理解这些影响的数据。

完美主义者可能会主张提高品质水平将会得到应有的回报。在确实如此的意义上,本发明使有利于更好地了解对设定值进行改动的微妙性且其根据一大的产品群体而非几个单独的样本来进行设定。

也可使用本发明以人工、半自动或自动方式使一系列不同的过程环封闭。本发明可与另一机器互连,以便使指示符值可与在制造一特定产品时的特定机器数据相关。合并每一部件的完整记录可有利于通过以封闭方式相耦合的机器使环封闭,从而可持续地对过程进行优化。通过图形用户界面来易于理解检验过程的相互关系可利于以高的可信度来实现封闭的控制环。

本发明适合于各种各样不同的工业检验及过程监控系统。以下为一简略的列表:

·  灰度色标机器视觉检验或过程监控系统

·  基于颜色的机器视觉检验或过程监控系统

·  基于X光的机器视觉检验或过程监控系统

·  基于热红外线的视觉检验或过程监控系统

·  集成的质量检验或过程监控系统

·  特征声检验或过程监控系统

·  力或压力场特征检验或监控系统

·  分光光度计检验或监控系统

·  超声波成像检验或过程监控系统

·  超声波特征检验或过程监控系统

·  表面光度计检验或过程监控系统

·  表面光洁度检验或过程监控系统

·  光泽计检验或过程监控系统

·  激光干涉计检验或过程监控系统

·  尺寸检验或过程监控系统

·  扫描激光器检验或过程监控系统

·  密度计检验或过程监控系统

·  热特征检验或过程监控系统

·  图案检验或过程监控系统

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于派拉斯科技术公司,未经派拉斯科技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200580014121.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top