[发明专利]一种测试力/电耦合场下金属薄膜疲劳寿命的方法有效
| 申请号： | 200510096133.4 | 申请日： | 2005-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN1766643A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 孙军;刘刚;牛荣梅;宋忠孝;徐可为 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N3/08;G01N27/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 陈翠兰 |
| 地址： | 710049*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 耦合 金属 薄膜 疲劳 寿命 方法 | ||
【说明书】：
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