[发明专利]实速扫描测试的电路和方法

权利要求书

1.一种用于对集成电路进行测试以对由从集成电路的第一模块到集成电路的第二模块的信号通道引起的时延故障进行检测的方法，该第一模块和该第二模块以不同的施加速度运行，所述方法包括以下步骤：

a)以参考频率将数据移位到扫描存储单元中，

b)以启动测试频率对第一模块施加启动测试时钟脉冲，其中该启动测试时钟脉冲驱动第一模块的存储单元并且起动由该第一模块所驱动的信号，

c)以捕获测试频率对第二模块施加捕获测试时钟脉冲，其中启动测试频率与捕获测试频率相同，启动脉冲和捕获脉冲的第一边沿彼此延迟一周期，该周期是启动测试频率的倒数，并且其中根据从第一模块到第二模块的信号通道的施加速度要求指定启动测试频率，第二模块中的存储单元由该捕获测试时钟脉冲激活并且存储从第一模块所驱动的信号，

d)以参考频率将数据从扫描存储单元移位到输出端，

e)将输出端的值与期望值进行比较。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，启动测试频率处于信号从第一模块中的存储单元传播到第二模块中的存储单元而不产生时延故障的时间的倒数的范围之内。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，启动频率和捕获频率比信号被允许从第一模块中的存储单元传播到第二模块中的存储单元的时间的倒数大5-20％。

4.根据权利要求1-3之一所述的方法，其特征在于，参考频率比启动频率和捕获频率慢并且由自动测试设备(ATE)提供。

5.根据权利要求1-3之一所述的方法，其特征在于，第一模块与第二模块的施加频率彼此不是成倍的。

6.一种用于生成用于对具有以N个不同的施加频率运行的N个模块的集成电路进行测试的测试模式的方法，N是大于1的整数，所述方法包括以下步骤：

a)生成具有NxN个元素的空的故障列表，

b)将计数变量i设置成零，

c)检查模块j中的启动周期和模块k中的捕获周期是否要求进行时延测试，其中通过用i除以N并且将该结果下舍入到下一整数来计算出j，并且其中通过从i中减去j乘以N来计算出k，

d)根据步骤c)，如果要求时延测试，则继续进行步骤e)；否则进行步骤g)，

e)由自动测试模式生成器(ATPG)生成测试模式，该测试模式包含模块j的启动测试脉冲和模块k的捕获测试脉冲，

f)将所生成的测试模式作为编号为i的元素存储在故障列表中，

g)如果i不等于N²-1，则继续进行步骤i)；否则结束，

i)i以1为步长递增，并且继续进行步骤c)。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在步骤e)中，生成测试模式，用于执行根据权利要求1-5之一所述的方法。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，在步骤c)中，是否要求进行时延测试的判定在使用设计信息的情况下进行。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在步骤g)中，启动测试脉冲和捕获测试脉冲的频率以及启动测试周期与捕获测试周期之间的延迟都在使用设计信息的情况下来确定。