[发明专利]逆转半导体探测器的性能退化的方法和设备有效
| 申请号: | 200480031132.5 | 申请日: | 2004-10-06 | 
| 公开(公告)号: | CN1871527A | 公开(公告)日: | 2006-11-29 | 
| 发明(设计)人: | D·加农;J·J·格里斯默 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 
| 主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 | 
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;张志醒 | 
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 逆转 半导体 探测器 性能 退化 方法 设备 | ||
【权利要求书】:
                
            
                    下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
                
                
            该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司,未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200480031132.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:墨盒
- 下一篇:用于保护门和窗开口的可调节安全装置





