[发明专利]用于测量入射光的方法以及具有采用该方法的分光装置的传感器有效
| 申请号： | 200480017642.7 | 申请日： | 2004-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN1809732A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 泽田和明;石田诚;丸山结城;武藤秀树 | 申请（专利权）人： | 独立行政法人科学技术振兴机构 |
| 主分类号： | G01J3/32 | 分类号： | G01J3/32;H01L27/14;H01L31/10;H04N5/335 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蒋世迅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 入射 方法 以及 具有 采用 分光 装置 传感器 | ||
【权利要求书】：
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