[发明专利]单根一维纳米材料的测试电极及其制作方法无效
| 申请号： | 200410091205.1 | 申请日： | 2004-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN1779466A | 公开（公告）日： | 2006-05-31 |
| 发明（设计）人： | 杨海方;刘立伟;金爱子;顾长志;吕力 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06;H05K3/06 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 单根一维 纳米 材料 测试 电极 及其 制作方法 | ||
【权利要求书】：
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