[发明专利]射线照相设备及辐射检测信号处理方法无效
| 申请号: | 200410063348.1 | 申请日: | 2004-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN1575755A | 公开(公告)日: | 2005-02-09 |
| 发明(设计)人: | 冈村升一;藤井圭一;足立晋;平泽伸也;吉牟田利典;田边晃一;浅井重哉;西村晓弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01N23/00;G03B42/02 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王新华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射线 照相 设备 辐射 检测 信号 处理 方法 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200410063348.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:成像的方法和设备
- 下一篇:介电陶瓷组合物和陶瓷电子元件





