[发明专利]用于分析测量电容的方法和电路装置有效
| 申请号： | 200410042113.4 | 申请日： | 2004-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1576861A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | M·梅勒特;J·费希特;H·奥贝特 | 申请（专利权）人： | 维加·格里沙伯股份公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;张志醒 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 分析 测量 电容 方法 电路 装置 | ||
【说明书】：
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