[发明专利]管理一次写入式记录介质上的缺陷的方法、装置和介质无效
申请号: | 200410034646.8 | 申请日: | 2004-04-19 |
公开(公告)号: | CN1551134A | 公开(公告)日: | 2004-12-01 |
发明(设计)人: | 黄盛凞;高祯完;李坰根 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/0045 | 分类号: | G11B7/0045;G11B7/007;G11B20/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 管理 一次 写入 记录 介质 缺陷 方法 装置 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200410034646.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:非水电解液二次电池
- 下一篇:具有先进的数据选通脉冲电路的半导体内存装置