[发明专利]对被测试的电子器件进行温度控制的装置和方法无效
| 申请号： | 02812057.4 | 申请日： | 2002-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN1537217A | 公开（公告）日： | 2004-10-13 |
| 发明（设计）人： | 查尔斯·B·沃尔;辛西娅·M·巴恩斯 | 申请（专利权）人： | 克里奥泰克公司 |
| 主分类号： | F25B41/04 | 分类号： | F25B41/04;F25B29/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马高平;杨梧 |
| 地址： | 美国南卡*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 电子器件 进行 温度 控制 装置 方法 | ||
【说明书】：
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