[实用新型]列阵式扫描探针电导率测定仪无效

专利信息
申请号: 02215223.7 申请日: 2002-01-18
公开(公告)号: CN2521613Y 公开(公告)日: 2002-11-20
发明(设计)人: 吴国斌;程振民;黄华江;袁渭康 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 邓琪
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 阵式 扫描 探针 电导率 测定
【权利要求书】:

1.一种列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于该测定仪由列阵式探针(1)、多路开关(3)、电导率仪(4)、多功能A/D卡(5)、计算机(6)和多路开关控制器(7)构成;

所说的列阵式探针(1)是由排列方向不同的两组探针(11、12)用隔离圈(2)隔离而构成的;

该多路开关(3),包括继电器组S1和继电器组S2,通过导线将一组探针(11)的m根探针I1、I2、……Im连接到多路开关(3)的继电器组S1的m个继电器的接入端,并将S1中所有继电器的接出端连结在一起并接入电导率仪(4)的一个输入端,同样,通过导线将另一组探针(12)的n根探针J1、J2、……Jn连接到继电器S2的n个接入端,并将S2中所有继电器的接出端连结在一起并接入电导率仪(4)的另一个输入端,该电导率仪(4)的输出讯号接入多功能A/D卡(5),经模数转换后输入计算机(6),计算机(6)通过多路开关控制器(7)控制多路开关(3)中每个继电器的工作。

2.根据权利要求1所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所说列阵式探针(1)可为直角坐标型列阵式探针,按照等间距平行方式,在水平方向排列一组探针(11),m根探针,在垂直方向排列另一组探针(12),n根探针;探针由导电材料制成,探针表面包覆一层绝缘层,但在两组排列方向不同的两根探针的投影交叉点处,需要裸露一段,以便于电导测量。

3.根据权利要求2所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所说的列阵式探针(1)为极坐标型列阵式探针。

4.根据权利要求2所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所说的列阵式探针(1)为柱面坐标型列阵式探针。

5.根据权利要求2所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所说的探针形状也可采用片、或其他形状。

6.根据权利要求2所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所说的探针可采用金属、表面镀金属或其他导电材料制成。

7.根据权利要求1所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所述的列阵式探针(1)可通过法兰固定在塔的任一截面,或采用其它定位方式安装在塔内呈水平、竖直或其他方向。

8.根据权利要求1所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所述的每一组列阵式探针组(11、12)可处于同一平面或处于任一曲面。

9.根据权利要求1所述的列阵式扫描探针电导率测定仪,其特征在于所述的计算机控制列阵式探针(1)测量电导率的扫描方式可按顺序、逆序或任意选定的循环方式进行。

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