[发明专利]记录和/或再现装置、处理缺陷区的方法及记录介质

权利要求书

1.一种记录和/或再现装置，用于在具有连续基本记录单元的记录介质中记录数据和从记录介质中读取数据，并处理记录介质的缺陷区，该装置包括：

拾取器件，用于在记录介质上记录数据和/或从记录介质中再现数据；

处理部件，用于对紧跟确认期间检测到的缺陷区后的区域分配预定数目的纠错码(ECC)块，并在缺陷管理区登记缺陷区列表中和登记紧跟一个缺陷区后分配的ECC块的预定数目的信息。

2.如权利要求1所述的记录和/或再现装置，其中，所述处理单元使用预定规则确定紧跟在一个缺陷区之后的ECC块的预定数目。

3.如权利要求1所述的记录和/或再现装置，其中，所述处理单元在紧跟所述一个缺陷区之后的预定数目的ECC块中记录预定测试信号或摆动信号作为参考信号。

4.如权利要求3所述的记录和/或再现装置，其中，如果在跟随在确认期间检测的一个缺陷区的预定数目的ECC块中检测到所述参考信号，紧跟跟随在一个缺陷区之后的预定数目的ECC块，所述处理单元记录确认之后的数据。

5.如权利要求3所述的记录和/或再现装置，其中，所述处理单元包括：

系统控制器，在所述确认期间检测所述一个缺陷区；和

信号处理器，处理数据，其中所述系统控制器当检测到一个缺陷区时，在紧跟跟随在所述一个缺陷区之后的预定数目的ECC块之后记录由数字信号处理器处理的数据。

6.一种在具有连续设置的基本记录单元的记录介质中处理缺陷区的方法，包括：

(a)紧跟在确认期间检测到缺陷区之后分配预定数目的纠错码(ECC)块；

(b)在所述记录介质的缺陷管理区中登记缺陷区列表和紧跟在缺陷区之后预定数目的ECC块的信息。

7.如权利要求6所述的方法，其中，过程(a)包括根据预定规则确定紧跟在缺陷区之后的ECC块的预定数目。

8.如权利要求6所述的方法，还包括：

(c)在紧跟缺陷区之后的预定数目的ECC块中记录预定测试信号或摆动信号作为参考信号。

9.如权利要求8所述的方法，还包括：

(d)如果在跟随缺陷区的预定数目ECC块之后检测到参考信号，则在跟随缺陷区的预定数目ECC块之后记录确认后的用户数据。

10.一种具有多个连续基本记录单元的记录介质，该记录介质包括：

预定数目的纠错码(ECC)块，其被分配于紧跟确认过程中检测到的缺陷区之后的区域；

缺陷管理区，记录缺陷区列表和关于紧跟缺陷区后分配的ECC块的预定数目的信息。

11.如权利要求10所述的记录介质，其中，根据预定规则预先确定缺陷区后ECC块的预定数目。

12.如权利要求10所述的记录介质，还包括作为参考信号的测试信号，提前记录在紧跟在缺陷区之后的预定数目ECC块中。

13.如权利要求10所述的记录介质，还包括作为参考信号的凹槽轨道的摆动信号，其提前记录在紧跟缺陷区之后的预定数目ECC块中，其中，当在确认之后记录用户数据时，如果在跟随检测到的缺陷区的预定数目ECC块中检测到参考信号，则在跟随所述缺陷区的预定数目ECC块之后开始用户数据的记录。