[发明专利]序列散斑场强度扫描位移测量方法无效
| 申请号： | 02130912.4 | 申请日： | 2002-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1401990A | 公开（公告）日： | 2003-03-12 |
| 发明（设计）人： | 李喜德;陶刚;邓兵;杨懿彰 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 序列 散斑场 强度 扫描 位移 测量方法 | ||
【说明书】：
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